Skip to main content

Hitachi High-Tech in Indonesia
  1. Home
  2. Produk
  3. Metalurgy, Mechanical & Chemical Composition
  4. XRF Microspot Benchtop

XRF Microspot Benchtop

Benchtop Microspot XRF

Alat analisa Benchtop Microspot XRF | FT, EA6000VX dan X-Strata

Alat analisis ketebalan lapisan dan material Mikrospot XRF untuk mengontrol kualitas dan pengujian validasi yang cepat, mudah untuk mendapatkan hasil yang tepat dalam hitungan detik.
Analisis ketebalan lapisan dan material berdasarkan X-ray fluorescence (XRF) adalah teknik analisis yang diterima secara luas dan terbukti di industri, menawarkan analisis yang mudah digunakan, cepat dan tidak merusak, memerlukan sedikit atau tanpa persiapan sampel, mampu menganalisis padatan atau cairan dengan rentang elemen yang luas dari ¹³Al hingga 92U pada tabel periodik.

Aplikasi

Microspot XRF untuk PCB/semikonduktor dan elektronik

Proses akhir PCB

Pelapisan komponen listrik dan elektronik

Paket substrat IC

Layanan manufaktur elektronik (EMS, ECS)

Fotovoltaik

Material yang dibatasi dan skrining dengan keandalan yang tinggi

X-Strata920
Penghitung Proporsional
X-Strata920
SDD Resolusi Tinggi
FT110A
Penghitung Proporsional
EA6000VX
SDD Resolusi Tinggi
FT160
SDD Resolusi Tinggi Optic Polycapillary
ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
Ketebalan dan komposisi nikel tanpa listrik (IPC 4556, IPC 4552) N/A ★★☆ N/A ★★★ ★★★
Ketebalan nikel tanpa listrik ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
Pencelupan Ag ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
Pencelupan Sn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
Solder bebas Pb (contoh : SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★ ★★★
CIGS N/A ★★☆ N/A ★★★ ★★★
CdTe N/A ★★☆ N/A ★★★ ★★★
Analisis thin film pada skala nm N/A ★★☆ N/A ★★★ ★★★
Analisis multi-layer ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★
JSkrining ROHS IEC 62321 N/A N/A N/A ★★★ N/A
Mengukur fitur < 50 µm N/A N/A N/A N/A ★★★
Perangkat lunak pengenalan pola N/A N/A ★★★ ★★★ ★★★
Pemetaan unsur N/A N/A N/A ★★★ N/A

Microspot XRF untuk finishing logam

Tahan korosi

Tahan aus

Sentuhan akhir dekoratif

Tahan panas

X-Strata920
Penghitung Proporsional
X-Strata920
SDD Resolusi Tinggi
FT110A
Penghitung Proporsional
FT160
SDD Resolusi Tinggi
Zn / Fe, Paduan Fe
Cr / Fe, Paduan Fe
Ni / Fe, Paduan Fe
★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
ZnNi / Fe, Paduan Fe
ZnSn / Fe, Paduan Fe
★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al
★★☆
(Ketebalan saja)
★★☆
(Ketebalan dan komposisi)
★★☆
(Ketebalan saja)
★★★
(Ketebalan dan komposisi)
Ag / Cu
Sn / Cu
★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
WC / Fe, Paduan Fe
TiN / Fe, Paduan Fe
★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Analisis thin film pada skala nm N/A ★★☆ N/A ★★★
Alalisis multi-layer ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★
Skrining ROHS IESC 62321 N/A N/A N/A N/A
Pengukuran bebas jarak N/A N/A ★★★ N/A
Perangkat lunak pengenalan pola N/A N/A ★★★ N/A

Perbandingan Produk

-

Tautan spesifikasi teknis

Contact Us