XRF Microspot Benchtop
Alat analisa Benchtop Microspot XRF | FT, EA6000VX dan X-Strata
Alat analisis ketebalan lapisan dan material Mikrospot XRF untuk mengontrol kualitas dan pengujian validasi yang cepat, mudah untuk mendapatkan hasil yang tepat dalam hitungan detik.
Analisis ketebalan lapisan dan material berdasarkan X-ray fluorescence (XRF) adalah teknik analisis yang diterima secara luas dan terbukti di industri, menawarkan analisis yang mudah digunakan, cepat dan tidak merusak, memerlukan sedikit atau tanpa persiapan sampel, mampu menganalisis padatan atau cairan dengan rentang elemen yang luas dari ¹³Al hingga 92U pada tabel periodik.
Aplikasi
Microspot XRF untuk PCB/semikonduktor dan elektronik
Proses akhir PCB
Pelapisan komponen listrik dan elektronik
Paket substrat IC
Layanan manufaktur elektronik (EMS, ECS)
Fotovoltaik
Material yang dibatasi dan skrining dengan keandalan yang tinggi
X-Strata920 Penghitung Proporsional |
X-Strata920 SDD Resolusi Tinggi |
FT110A Penghitung Proporsional |
EA6000VX SDD Resolusi Tinggi |
FT160 SDD Resolusi Tinggi Optic Polycapillary |
|
---|---|---|---|---|---|
ENIG | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
ENEPIG | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
Ketebalan dan komposisi nikel tanpa listrik (IPC 4556, IPC 4552) | N/A | ★★☆ | N/A | ★★★ | ★★★ |
Ketebalan nikel tanpa listrik | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
Pencelupan Ag | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
Pencelupan Sn | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
HASL | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
Solder bebas Pb (contoh : SAC) | ★☆☆ | ★★☆ | ★☆☆ | ★★★ | ★★★ |
CIGS | N/A | ★★☆ | N/A | ★★★ | ★★★ |
CdTe | N/A | ★★☆ | N/A | ★★★ | ★★★ |
Analisis thin film pada skala nm | N/A | ★★☆ | N/A | ★★★ | ★★★ |
Analisis multi-layer | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ | ★★★ |
JSkrining ROHS IEC 62321 | N/A | N/A | N/A | ★★★ | N/A |
Mengukur fitur < 50 µm | N/A | N/A | N/A | N/A | ★★★ |
Perangkat lunak pengenalan pola | N/A | N/A | ★★★ | ★★★ | ★★★ |
Pemetaan unsur | N/A | N/A | N/A | ★★★ | N/A |
Microspot XRF untuk finishing logam
Tahan korosi
Tahan aus
Sentuhan akhir dekoratif
Tahan panas
X-Strata920 Penghitung Proporsional |
X-Strata920 SDD Resolusi Tinggi |
FT110A Penghitung Proporsional |
FT160 SDD Resolusi Tinggi |
|
---|---|---|---|---|
Zn / Fe, Paduan Fe Cr / Fe, Paduan Fe Ni / Fe, Paduan Fe |
★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
ZnNi / Fe, Paduan Fe ZnSn / Fe, Paduan Fe |
★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al |
★★☆ (Ketebalan saja) |
★★☆ (Ketebalan dan komposisi) |
★★☆ (Ketebalan saja) |
★★★ (Ketebalan dan komposisi) |
Ag / Cu Sn / Cu |
★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
Cr / Ni / Cu / ABS | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
Au / Pd / Ni /CuZn | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
WC / Fe, Paduan Fe TiN / Fe, Paduan Fe |
★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
Analisis thin film pada skala nm | N/A | ★★☆ | N/A | ★★★ |
Alalisis multi-layer | ★★☆ | ★★★ | ★★☆ | ★★★ |
Skrining ROHS IESC 62321 | N/A | N/A | N/A | N/A |
Pengukuran bebas jarak | N/A | N/A | ★★★ | N/A |
Perangkat lunak pengenalan pola | N/A | N/A | ★★★ | N/A |