【日立ハイテク共催】評価・解析セミナー2024 in長野
長野県の代理店 高山理化精機株式会社との共催で「評価・解析セミナー2024 in長野」を開催いたします。日立ハイテクからFE-SEM・卓上顕微鏡・イオンミリング・AFMを用いた観察解析・物性測定に関する講演、日立ハイテクサイエンスからはハンドヘルドXRF分析装置に関する講演をいたします。皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。
開催概要
日時
2024年11月21日（木）10:30～17:00（受付開始 10:00～）
会場
松本市勤労者福祉センター
〒390-0811 長野県松本市中央4-7-26
参加費
無料
定員
150名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
お申込み
高山理化精機株式会社WEBサイトより、お願いいたします。
プログラム
| 時刻（時間） | 講演内容 |
|---|---|
| 10:30～11:30 | 「頼性試験と電動化に向けた試験動向について」（エスペック株式会社） 信頼性試験の基礎的な考え方と電動化に伴う評価におけるポイント、試験事例などご紹介いたします |
| 11:30～13:00 | 昼休憩・午後の受付 会場内のデモ機・同時開催しております展示会をご自由にご覧いただけます |
| 13:00～13:40 | 「デジタル画像相関法（DIC）による変形特性、熱ひずみ特性評価のご紹介」（JFEテクノリサーチ株式会社） DICの適用による材料変形時のひずみ分布評価と電子部品における別分布評価課題についてご紹介 |
| 13:40～14:20 | 「材料分析・評価事例のご紹介」（株式会社堀場製作所） 顕微ラマン分析装置や蛍光X線分析装置、グロー放電発光表面分析装置などを用いた様々な材料分析・評価ソリューションのご紹介 |
| 14:20～14:50 | 休憩 デモ機・パネルの展示・同時開催の展示会をご覧いただけます |
| 14:50～15:10 | 「多検体の観察作業を自動化！SU3800SE/SU3900SEのご紹介」（株式会社日立ハイテク） 新型ショットキーFE-SEMの特徴とSEM/EDSアプリケーション事例 |
| 15:10～15:30 | 「品質管理における卓上顕微鏡Miniscopeの活用法」（株式会社日立ハイテク） 日立卓上SEM・EDSの最新情報と品質管理アプリケーションのご紹介 |
| 15:30～15:50 | 「内部構造解析におけるイオンミリングの活用」（株式会社日立ハイテク） イオンミリング装置の解析事例と最新オプションのご紹介 |
| 15:50～16:10 | 「最新AFMによる自動化技術とSEM-AFM相関解析」（株式会社日立ハイテク） 新製品AFM5500MⅡによる自動測定とSEM-AFMリンケージ機能による相関解析事例のご紹介 |
| 16:10～16:40 | 「ハンドヘルド蛍光X線分析装置で加速する効率的な品質管理」（株式会社日立ハイテクサイエンス） 製造業における品質管理の現場のニーズに対し、ハンドヘルド装置であることによるメリット、寄与できるポイントなどをご紹介 |
| 16:40 | 閉会の挨拶 17:00までご自由にデモ機などご覧いただけます |
* プログラムは予告なく変更になる場合があります。あらかじめご了承ください。
詳細はこちらをご覧ください。