【オンライン開催】コスト削減と品質管理の両立を実現する蛍光X線膜厚計活用セミナー
金・銀・銅等、金属材料の価格が高騰を続けていく中、電気・電子機器業界を始め、めっき膜厚のより厳しい管理ニーズが高まっています。
本セミナーでは、めっき膜厚管理におけるコスト対策を考える皆様へポリキャピラリと高性能半導体検出器を搭載した蛍光X線膜厚計FT160をご提案します。薄膜管理ニーズに応えた高精度・高スループットの特長に加え、コネクタやセラミックチップ部品、プリント基板、半導体デバイス等の膜厚測定事例についても紹介させていただきます。
皆様のご参加を心よりお待ちしております。
開催概要
開催期間（視聴可能期間）
2024年12月2日（月）10:00～12月5日（木）17:00
形式
Webセミナー（オンデマンド配信）
※ 期間中はお客様のご都合に合わせて視聴いただけます。一時停止や繰り返し視聴も可能です。
※ 動画配信サービス「BrightCove」を使ったビデオ視聴となります。お手元の環境にて、動画視聴に制約がある場合はご利用いただけない場合がありますので、予めご了承ください。
参加料
無料
プログラム
「蛍光X線膜厚計FT160による高精度・高スループットなめっき膜厚管理」 （講演時間：約40分）
お申込み
オンラインお申し込みフォームよりお申し込みください。
締め切り
2024年11月27日（水）12:00
受講のご案内について
開催の前日までに、視聴用URLをメールでご案内します。
前日になってもメールが届かない場合は、下記よりお問合せ下さい。
お問合せ
株式会社日立ハイテクサイエンス
蛍光X線膜厚計活用セミナー事務局