ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)
  5. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM) スペシャルコンテンツ

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM) スペシャルコンテンツ

日立ハイテクサイエンスの走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の特長や最新技術ををわかりやすくまとめたスペシャルコンテンツです。

-

水平方向の相互作用影響を受けず、凹凸や吸着が大きな試料や軟らかい試料などの安定した測定を可能にする "SISモード" をご紹介します。

-

大気中における吸着水やガス分子の影響を排除した真空環境におけるAFM観察の有効性について紹介します。

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。

S.I.navi

「S.I.navi」は、日立ハイテク取扱分析装置に関する会員制サイトです。
お客さまの知りたいこと、日々の業務に役立つ情報を「S.I.navi」がサポートします。

Semevolution

日立電子顕微鏡をご使用されているお客さまは、「S.I.navi」上で製品情報をご登録いただくと、日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」にて、さらに多くの関連情報をご覧いただけます。

お問い合わせ