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顕微鏡研究開発
超高分解能電界放出形
走査電子顕微鏡SU8600 -
分析装置研究開発
示差走査熱量計(DSC)
NEXTA®DSCシリーズ -
顕微鏡研究開発
〈表面解析〉中型プローブ
顕微鏡システムAFM5500MⅡ -
分析装置研究開発
示差熱熱重量同時測定装置（TG-DSC）
NEXTA® STAシリーズ -
分析装置研究開発／品質管理
〈無機分析〉ICP発光分光分析装置
PS3500DDⅡ -
顕微鏡研究開発
リアルタイム3Dアナリティカル
FIB-SEM複合装置NX9000 -
データ活用・AI研究開発
材料開発ソリューション
マテリアルズ・インフォマティクス/プロセス・インフォマティクス -
顕微鏡研究開発
高性能FIB-SEM複合装置
Ethos NX5000 -
製造装置製造
自動組立装置 -
顕微鏡研究開発
超高分解能ショットキー
走査電子顕微鏡SU8700 -
データ活用・AI研究開発
Chemicals Informatics® -
製造装置製造
電極積層機（つづら式・枚葉式） -
分析装置研究開発
原子吸光光度計
ZA4000 -
顕微鏡研究開発
電界放出形透過電子顕微鏡HF5000 -
製造装置製造
コーター・ドライヤー -
顕微鏡研究開発
イオンミリング装置ArBlade®5000 -
製造装置製造
ロールプレス設備 -
製造装置製造
NMP濃縮・回収装置 -
異物検査装置製造
X線インライン異物検査システム -
データ活用・AI製造
探索的データ分析ツール
Spotfire -
顕微鏡品質管理
走査電子顕微鏡
SU3800/SU3900 -
受託サービス品質管理
試作 受託評価サービス -
顕微鏡品質管理
走査電子顕微鏡
FlexSEM1000Ⅱ -
製造装置製造
ドライルーム・除湿機 -
異物検査装置品質管理
X線異物解析装置
EA8000A -
受託サービス品質管理
分析・解析 受託評価サービス -
顕微鏡品質管理
卓上顕微鏡Miniscope®
TM4000PlusⅢ -
受託サービス品質管理
計測 受託評価サービス -
顕微鏡品質管理
高分解能ショットキー走査電子顕微鏡
SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus -
受託サービス品質管理
試験 受託評価サービス -
データ活用・AI品質管理
検査データ管理システム(LIMS)
LabDAMS® -
製造装置製造
スリッター