Skip to main content

日立高新技术在中国
地区/语言地区/语言 联系我们联系我们
  1. 首页
  2. 产品活动信息
  3. 电子显微镜・原子力显微镜
  4. 电子显微镜 (SEM/TEM/STEM)
  5. 场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM)
  6. 高分辨热场发射扫描电镜 SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus

高分辨热场发射扫描电镜
SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus

-

SE系列集高性能与通用性于一身

SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品,配置超高分辨率与观察能力,而且不像部分SEM产品,受安装样品尺寸与重量的限制,此系列可以通过简单的操作实现数据采集。可用于钢铁等工业材料,汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。
此外,SE系列包括4种型号(两种类型,两个等级),满足众多领域的测试需求。用户可以根据实际用途(如微观结构控制:用于改善电子元件、半导体等材料的功能和性能;异物、缺陷分析:用于提高产品品质)选择适合的产品。

* 所示仪器图片带有选配项。

特点

热场SEM支持低真空,搭载超大样品仓,可扩展实现更多功能

电子显微镜是进行材料形貌评价与分析的重要手段,而且直接观察样品的需求很常见。
SU3900/SU3800SE系列搭载牢固的多用途样品仓,对于非导电性样品,无需进行导电处理(金属镀膜);对于超大超重样品,无需进行切割等破环处理,可以直接安装到样品台,实现样品的多角度观察。

-
-

观察肉眼看不到的细节,更高分辨率、极表面观察

此系列搭载新开发的热场电子枪,无论是在高加速电压还是低加速电压区域,均可获得超高分辨率图像。
高端型号(SE Plus)可以满足对样品极表面的观察需求。
标配低电压高灵敏度背散射电子探测器,可切换采集信号获得成分和凹凸信息。
与选配的UVD探测器组合使用,可以获得样品多种类型信息,实现多种模式观察。

-

自动化、辅助功能让操作更便捷

SU3900/SU3800 SE系列配备自动光学系统调整功能,可大量简化操作流程。
此外,使用选配功能【EM Flow Creator】,可以自动连续获取图像。
将条件设置(如放大倍率,样品台位置等)、调整对焦/对比度等SEM功能转化为可组合的模块,生成一系列观察程序。每个客户都可以创建自己的观察程序。
通过拖拽模块,可以像流程表一样创建程序。通过执行创建的程序,即可实现自动观察。

-
-


①确定指定区域,以×300倍率拍摄低倍图像
②以×1,000 拍摄同一区域的中倍图像
③以×5,000 拍摄同一区域的高倍图像

应用案例

铁丝断面

铁丝断面
可以确认韧性断裂引起的微小孔洞。

SUS316

SUS316
可以看到位错结构产生的线状衬度。

电路板

电路板
通过低倍率、高倾斜观察,可以确认贴装元件的立体形状及位置。

多层陶瓷电容器横截面

多层陶瓷电容器横截面
可以观察到镍电极/电介质层的成分和晶体衬度。

氧化锌颗粒

氧化锌颗粒
可以观察到50 nm 左右的细小颗粒及立体形状。

高熵硬质合金薄膜

高熵硬质合金薄膜
可以观察到不同成分/形状的多个颗粒的分布。

锂离子电池正极材料

锂离子电池正极材料
可以观察到正极材料颗粒与周围粘合剂的分布。

锂离子电池负极材料

锂离子电池负极材料
可以观察到负极材料最表面的粘合剂。

规格

项目 SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus
电子光学系统 二次电子分辨率 0.9 nm@30 kV
2.5 nm@1 kV
1.6 nm@1 kV(*1)
放大倍率 5~600,000×
电子枪 ZrO热场发射(肖特基热场发射)
加速电压 0.5 kV~30 kV
着陆电压(*1) 0.1 kV~2 kV
束流 最大150 nA
真空系统 低真空模式 6~150 Pa
探测器 标配探测器 二次电子探测器(SED)
顶探测器(TD) (*2)
5分割背散射电子探测器(BSED)
选配探测器 高灵敏度低真空探测器(UVD)
马达台 马达台驱动方式 5轴优中心马达台
移动范围
X 0~150 mm 0~100 mm
Y 0~150 mm 0~50 mm
Z 3~85 mm 3~65 mm
T -20~90°
R 360°
样品仓 样品尺寸 最大直径300 mm 最大直径200 mm

*1 选配

*2 SE Plus机型

关联产品分类

相关链接

相关信息

分析仪器·电子显微镜·原子力显微镜:400-898-1021

-

* 关注日立科学仪器,了解更多仪器产品信息

生化分析仪:010-65908700

-

* 关注「日立诊断」微信公众号,了解更多仪器产品信息

联系我们