原子力显微镜工作站AFM5000II/RealTune® II
特点
1. RealTune® II 的参数自动设置功能
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独有的参数自动设置功能!
RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数,可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况,高效率、高精度地调整成合适的测量条件。 -
通过新增加的参数自动设置功能(RealTune® II),可实现一键(One Click)测量。
原来需要专业操作才能完成的测量,现在即便是新手也可以轻松胜任。 - 也可用于高难度样品。
以往的方法这些样品需要对参数进行精细的调整,操作难度很高,并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
新处理方法
自动设置成合适的条件,可在复杂的纤维结构不变形的情况下进行精准测量。
以往的方法这种样品,表面容易损坏,易产生皱痕、台阶的轮廓也不明显。
新处理方法
自动设置成合适的条件,稳定地测量分子级别上的台阶结构。
2. 全新的图标用户界面(Graphical Use Interface)
简单的菜单设置
- 明了易懂的图标、严格筛选的图片信息,无论是初学者还是有经验的操作员,都能够轻松掌控!
- 可通过选项卡在测量及分析之间相互切换,画面简洁明了。
3. 3D覆盖功能
能够将样品形貌及物理特性叠加显示,并能构画出3D画面,可以通过视觉感受表示样品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能
配备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样的分析功能。
5. 小型化设计
轻便的小型化外形,适合各种场地摆放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
规格
OS | Windows®7 |
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连接机型 | AFM100 |
RealTuneII | 悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
操作画面 | 导航功能、多图显示功能(测量/分析)、3D叠加功能、扫描范围/测量记录显示功能、数据分析批量处理功能、探针评估功能 |
X,Y,Z扫描电压 | XY(±200V/18bit) Z(±200V/26bit) |
多画面测量 | 4画面(最大2048×2048) 2画面(最大4096×4096) |
长方形扫描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
分析软件 | 3D显示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
尺寸、重量 | 220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、约15 kg |
电源 | AC 100V~240V±10%、单相 |
介绍扫描探针显微镜的应用数据。
解说扫描式隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)等的原理和各种状态原理。
描述我们的扫描探针显微镜和我们的设备的历史和发展。(Global site)
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