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![半導体製造装置](/jp/ja/media/semi-9000_main_jpg_tcm26-26712.jpg)
半導体製造装置
エッチング装置など。
![半導体評価装置](/jp/ja/media/semi-cv6300_main_png_tcm26-29787.png)
半導体評価装置
測長装置、ウェーハ表面検査装置など。
![電子顕微鏡](/jp/ja/media/su8600_main_tcm26-61741.png)
電子顕微鏡
透過電子顕微鏡(TEM)、走査透過電子顕微鏡(STEM)、走査電子顕微鏡(SEM)、集束イオンビーム加工観察装置(FIB/FIB-SEM)、X線分析装置、ウルトラミクロトーム、イオンミリング装置、フォトマスクリペア(MR)など。
![プローブ顕微鏡 白色干渉顕微鏡](/jp/ja/media/em-spm-consumables_jpg_tcm26-31043.jpg)
プローブ顕微鏡
白色干渉顕微鏡
走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)、走査型白色干渉顕微鏡(CSI)など。
![分析装置](/jp/ja/media/ana-chromaster_main_jpg_tcm26-27057.jpg)
分析装置
分光光度計、分光蛍光光度計、原子吸光光度計、高速液体クロマトグラフ、高速アミノ酸分析計、クロマトデータ処理装置、タンパク質解析用液体クロマトグラフ質量分析計など、およびガスバリア試験装置などの輸入機器。
![医用機器](/jp/ja/media/labospect-008a_main_png_tcm26-160336.png)
医用機器
生化学自動分析装置、検体検査自動化システム、遺伝子関連検査システム、高純水製造システムなど。
![計測制御システム](/jp/ja/media/support_ot_kanren_tcm26-160337.png)
計測制御システム
各種プロセス用工業計器および各種プラント用計測・制御・生産管理システム、各種水質分析計、テレメータ装置、ダイオキシン前躯体モニタ、PCBモニタなど。
![部品・消耗品/関連機器](/jp/ja/media/index_08_tcm26-24402.png)
部品・消耗品/関連機器
日立ハイテク製 装置・システムの部品・消耗品、および各種電子顕微鏡・分析装置の周辺機器、ALLIED社製 精密研磨装置、Leica社製 電子顕微鏡用試料作製装置、ニューメタルスエンドケミカルスコーポレーション社製ダイヤモンドワイヤー切断機など、および移設・移転。