例年ご好評いただいております「材料解析テクノフォーラム」を、10月21-23日の3日間、WEBイベントとして開催いたします。電子顕微鏡を用いた異物解析・粒子解析の自動化、5Gに向けて微細化が進む積層セラミックコンデンサ（MLCC）の解析技術、リチウムイオンバッテリーの開発・製造における解析技術など、材料開発分野における電子顕微鏡の最新情報をお届けします。
期間中は、各講演の動画をオンデマンドで配信。お客様のご都合に合わせてご視聴いただけるほか、各講演に関するQ&Aライブセッションも予定しています。
2020年10月21日（水）～ 2020年10月23日（金）
2020/10/21 9:00～2020/10/23 18:00
※期間中は夜間も含め、セミナー動画を視聴いただけます。なお、各日16:00～16:30にQ&Aライブセッションを開催いたします。
詳細は下記プログラム欄をご参照ください。
WEBセミナー（録画）形式となります。
開催日前日に、視聴用のURLをご案内いたします。
無料
500名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
株式会社 日立ハイテク
事業戦略二部
担当 鹿野 / 木村
| 時間 | テーマ／内容 |
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| 2020年10月21日（水） 9:00 ～ 2020年10月23日（金） 18:00 | 各講演の動画について 本Webセミナーの開催期間中であれば、再生・一時停止・再聴講など、お客様のご都合に合わせて視聴いただくことが可能です。 各演題は3つのテーマに分類されていますが、期間中は全講演とも視聴いただけます。 Q&Aライブセッション（オンライン）について 各日16:00～16:30に、各講演に関するご質問にお答えするQ&Aライブセッションを予定しております。弊社技術者とのディスカッションの場として、奮ってご参加ください。（詳細はお申し込み後にご案内申し上げます。）
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| 演題1 【テーマ：自動化】 （講演時間：約20分） |
大容量データ取得に対応した自動化機能のご紹介 マテリアルズインテグレーションを始めとする膨大なデータを活用した材料開発や微細化・厳格化が進む電子部品材料の品質検査・管理など、大量のデータ収集・解析の必要性が高まっています。本セミナーではSEMでの多視野/大容量データ取得向けた自動化機能について、解析事例を交えてご紹介いたします。 日立ハイテク 解析ソリューション開発部 谷 友樹 |
| 演題2 【テーマ：LIB ①】 （講演時間：約20分） |
雰囲気遮断 イオンミリング－SEM－AFMによるLIBの解析 ～充放電サイクル前後の組成と電気抵抗分布の相関～ イオンミリング、SEM、AFMに共通の雰囲気遮断試料ホルダを用いたシステムを開発し，LIB正極，負極試料の構造，元素分析，電気抵抗分布（SSRM）などの同一箇所観察を実施した。正極のプレスによる性能向上や，シリコン-黒鉛負極の常温サイクル試験前後および高温サイクル試験後の抵抗増大等に関する相関解析結果をご紹介いたします。 日立ハイテク 解析ソリューション開発部 山岡 武博 |
| 演題3 【テーマ：LIB ②】 （講演時間：約20分） |
FE-SEMを中心としたリチウムイオン電池解析事例のご紹介 リチウムイオン電池の研究開発・製造において、SEMは形状、組成などを視覚的に把握できる解析手法として各工程で広く使用されています。今回は低加速・高分解能FE-SEMによる評価を中心に、光顕、ラマン、AFMとの相関解析システムを用いた、リチウムイオン電池解析事例および最新の取り組みをご紹介いたします 日立ハイテク 解析ソリューション開発部 宮木 充史 |
| 演題4 【テーマ：LIB ③】 （講演時間：約20分） |
球面収差補正200kV TEM/STEM HF5000のその場観察機能とその応用 HF5000のその場観察機能は差動排気を強化した開放型のガス導入システムを採用しており、MEMS加熱ホルダーと組み合わせることで加熱、ガス環境下においても原子分解能観察が可能となります。本セミナーではHF5000のその場観察機能とその特長を活かしたアプリケーションについてご紹介いたします。 日立ハイテク 解析ソリューション開発部 白井 学 |
| 演題5 【テーマ：5G ①】 （講演時間：約20分） |
材料開発をサポートするFIB技術 －5G市場における電子顕微鏡関連技術の活用 5G向け基地局や端末向けの新材料開発が活発に進められており、なかでも積層セラミックコンデンサの需要が増加しています。本セミナーでは日立FIB装置の紹介とこれらを用いた積層セラミックコンデンサの解析事例についてご紹介します。最後にETHOS NX5000の新機能についてもご紹介いたします。 日立ハイテク 解析ソリューション開発部 渡邉 慶太郎 |
| 演題6 【テーマ：5G ②】 （講演時間：約20分） |
材料評価・品質管理へのナノ３D計測ツール（CSI/AFM ）活用アプリケーションのご紹介 市場拡大が進む５Gでは高速・大容量のデータ通信が可能となりますが、低損失性向上のため既存技術とは異なる材料開発や品質管理が求められています。 本セミナーでは、日立ハイテクが販売するナノ３D計測ツールCSI（白色干渉顕微鏡）およびAFMの特長と５G対応製品に活用できるアプリケーションをご紹介いたします。 日立ハイテク 解析ソリューション開発部 柳川 香織 |
