【WEB開催】TEM基礎セミナー
透過電子顕微鏡（TEM）の基礎に関するセミナーを開催いたします。
今回よりFIB装置によるTEM試料作製手法の演題も加え、多くの皆さまのご参加をお待ちしております。
【学べる内容】
- TEMの構造、原理
- TEM観察のポイント
- 試料前処理の基本的な手法
- FIB装置によるTEM試料作製手法 [new!]
【こんな方におすすめ】
- これからTEMを使い始める方
- 日常的にTEMを使用しているが、改めて原理の理解を深めたい方
- 前処理手法のバリエーションを学びたい方
開催概要
日時
2024年12月18日（水）15:00～17:05
会場
WEBセミナー形式となります。
開催日前日に、視聴用のURLをご案内いたします。
* 本セミナーでは、Cisco Webexを使用いたします。ブラウザでのご視聴の場合、Google Chrome、Microsoft EdgeまたはFirefoxでの閲覧を推奨しております。Internet Explorerでは動画がご覧いただけませんのでご注意ください。
* ブラウザのバージョンは、いずれも最新版をご利用ください。
参加費
無料
定員
300名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
お申込み
受付は終了いたしました。
多数のお申し込みをいただき、誠にありがとうございました。
プログラム
| 時刻（時間） | 講演内容 |
|---|---|
| 15:00~15:05（5分） | 開会のご挨拶・操作説明 |
| 15:05~15:45（講演30分、質疑応答10分） | TEMの基礎と観察のポイント（株式会社日立ハイテク） これからTEMを始められる方、初心者の方向けにTEMの構造や原理を簡単にご説明します。また汎用120kV TEMをベースとしたTEMの操作や観察のポイントについてご紹介します。 |
| 15:45~16:30（講演35分、質疑応答10分） | TEMの試料前処理の基礎（株式会社日立ハイテク） TEM観察のための試料前処理手法は多種多様であり、試料の特性や目的により最適な手法を選択する必要があります。今回は、透過電子顕微鏡の様々な前処理手法についてその概要とアプリケーションをご紹介します。 |
| 16:30~17:00（講演20分、質疑応答10分） | FIB装置によるTEM試料作製の基礎（株式会社日立ハイテク） 集束イオンビーム（FIB）装置は加工位置精度が高く、特定の場所での試料作製が可能なことから、近年ではTEM試料作製の主流手法として用いられています。今回は、FIBの基礎原理とTEM試料作製における活用例をご紹介します。 |
| 17:00~17:05 (5分) | 閉会のご挨拶・ご案内 |
* プログラムは予告なく変更になる場合があります。あらかじめご了承ください。
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ご参加にあたっての注意事項
本ウェビナーは、Google Chromeを使用したブラウザからの参加、もしくはWebexのアプリにてご視聴いただけます。
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お問い合せ
株式会社 日立ハイテク
コアテクノロジー＆ソリューション事業統括本部 グローバル営業企画部
担当 中林・山村
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