【WEB開催】TEM基礎セミナー
透過電子顕微鏡（TEM）の基礎に関するセミナーを開始いたします。TEMの構造や原理、観察のポイントをご紹介します。その他、試料前処理の講演に加え、今回はFIB装置を用いる試料作製手法も新たにご紹介します。これからTEMを始められる方、初心者の方、改めて基礎を振り返りたい方など、多くのご参加をお待ちしております。
開催概要
日時
2024年12月18日（水）15:00～17:05
会場
WEBセミナー形式となります。
開催日前日に、視聴用のURLをご案内いたします。
* 本セミナーでは、Cisco Webexを使用いたします。ブラウザでのご視聴の場合、Google Chrome、Microsoft EdgeまたはFirefoxでの閲覧を推奨しております。Internet Explorerでは動画がご覧いただけませんのでご注意ください。
* ブラウザのバージョンは、いずれも最新版をご利用ください。
参加費
無料
定員
300名
* 原則として、先着順とさせていただきます。
お申込み
お申し込みフォームより、お願いいたします。
* ご登録のメールアドレスがフリーアドレスの場合、視聴用URLをご案内できないことがございます。ご所属先のメールアドレスでお申し込みくださいますようお願いいたします。
* 同業の方からのお申し込みはご遠慮くださいますようお願い申し上げます。
プログラム
| 時刻（時間） | 講演内容 |
|---|---|
| 15:00~15:05（5分） | 開会のご挨拶・操作説明 |
| 15:05~15:45（講演30分、質疑応答10分） | TEMの基礎と観察のポイント（株式会社日立ハイテク） これからTEMを始められる方、初心者の方向けにTEMの構造や原理を簡単にご説明します。また汎用120kV TEMをベースとしたTEMの操作や観察のポイントについてご紹介します。 |
| 15:45~16:30（講演35分、質疑応答10分） | TEMの試料前処理の基礎（株式会社日立ハイテク） TEM観察のための試料前処理手法は多種多様であり、試料の特性や目的により最適な手法を選択する必要があります。今回は、透過電子顕微鏡の様々な前処理手法についてその概要とアプリケーションをご紹介します。 |
| 16:30~17:00（講演20分、質疑応答10分） | FIB装置によるTEM試料作製の基礎（株式会社日立ハイテク） 集束イオンビーム（FIB）装置は加工位置精度が高く、特定の場所での試料作製が可能なことから、近年ではTEM試料作製の主流手法として用いられています。今回は、FIBの基礎原理とTEM試料作製における活用例をご紹介します。 |
| 17:00~17:05 (5分) | 閉会のご挨拶・ご案内 |
* プログラムは予告なく変更になる場合があります。あらかじめご了承ください。
関連製品
ご参加にあたっての注意事項
本ウェビナーは、Google Chromeを使用したブラウザからの参加、もしくはWebexのアプリにてご視聴いただけます。
Internet Explorerでは動画がご覧いただけませんのでご注意ください。
Chrome（ブラウザ）で参加される方は音声の設定が必要です。設定方法はこちら
* 恐れ入りますが、Zoom、Teams等には対応しておりません。
お問い合せ
株式会社 日立ハイテク
コアテクノロジー＆ソリューション事業統括本部 グローバル営業企画部
担当 中林・山村
お問い合せフォームよりお願いします。