BRUKER 2次元検出器搭載小角X線散乱装置 NANOSTAR

最高レベルのモジュールデザイン

NANOSTARは、フレキシブルなモジュール式装置で、小角散乱法により1から125nmまでのナノ構造解析、GI-SAXによる表面解析など最高性能を誇る小角散乱装置です。

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取扱会社：株式会社日立ハイテクサイエンス

特長

2次元人工多層膜ミラーとピンホール光学系による、強度平行ビームにより、短時間での測定が可能となりました。
また、平行ビームを用いることによりビーム発散を抑えることができ、大きな構造の解析が可能となりました。

NANOSTARは、2次元検出器により等方性・非等方性の試料測定が可能です。
試料-検出器間距離は11.5mm～1,070mmと可変、小角測定から広角測定に対応します。
また、イメージングプレートを用いることで小角・広角同時測定にも対応します。

* “BRUKER”はBRUKER ANALYTIK 社の日本およびその他の国における登録商標です。

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