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![CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE750](/jp/ja/media/ana-oe750_main_jpg_tcm26-29259.jpg)
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CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE750
CMOS検出器搭載により、より精度の高い分析を可能にしたフラグシップモデルです。 新たな光学系によりシリーズ最高の精度ながら、コンパクトになった筐体は卓上に設置が可能であり、研究、品質管理、品質保証と様々な場面で活躍できます
![可搬型OES PMI-MASTERシリーズ](/jp/ja/media/ana-pmi_master_main_jpg_tcm26-30441.jpg)
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可搬型OES PMI-MASTERシリーズ
可搬型のOES(発光分光分析)装置です。LiやCなど、Al合金やスチールにおいて重要な元素でありながら従来の測定方法では定量が難しかった元素の測定を、モバイル装置で実現しました。従来では測定の難しかった工場内の設備など、PMI(Positive Material Identification)や品質管理の現場に最適な分析装置です。
![ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ](/jp/ja/media/ana-vulcan_main_jpg_tcm26-30436.jpg)
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ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ
ハンドヘルドタイプのLIBS(レーザー誘起ブレークダウン法)装置です。圧倒的な分析速度に加え、アルミニウムなどの軽元素に強いため、日々におけるサンプルの大量測定に最適な分析手法です。
![ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ](/jp/ja/media/ana-x_met8000_main_jpg_tcm26-30432.jpg)
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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ
実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。
![産業用コンピュータHF-Wシリーズ](/jp/ja/media/HF-W_series_tcm26-27562.png)
![産業用PC・マザーボード](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![産業用フラッシュメモリ・DIMM](/jp/ja/media/hmt012_main_jpg_tcm26-27567.jpg)
![金型管理サービス](/jp/ja/media/hnx054_main_jpg_tcm26-29491.jpg)
![計測・試験・分析 受託評価サービス](/jp/ja/media/index_main_png_tcm26-35157.png)
![X線CTシステム:非破壊検査|世界最大級の高エネルギーX線CT](/jp/ja/media/branding_tcm26-230558.png)
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X線CTシステム:非破壊検査|世界最大級の高エネルギーX線CT
世界最大級9MVの高エネルギーX線CTシステム。大型製品や高密度材、複合材に対応。欠陥検出、形状計測から、密度解析、CAE連携によるリバースエンジニアリングまでモノづくりを支援。