CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE750
CMOS検出器搭載により、より精度の高い分析を可能にしたフラグシップモデルです。
新たな光学系によりシリーズ最高の精度ながら、コンパクトになった筐体は卓上に設置が可能であり、研究、品質管理、品質保証と様々な場面で活躍できます
価格：お問い合わせください
取扱会社：株式会社 日立ハイテクサイエンス
特長
高い検出感度と測定精度
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CMOSセンサの採用
検出器をCCDからCMOSに変更することで、分解能が従来機と比較して倍に向上しています*1。 -
様々な合金の微量有害元素や不純物の検出
鉄鋼中のN(窒素)やアルミニウムダイカストにおけるリン(P)、ビスマス(Bi)、アンチモン(Sb)、カルシウム(Ca)など様々な微量有害元素の検出が可能になりました。 -
ピークポジションアライメントシステムの採用
ピークポジションアライメントシステムは、取得するスペクトルのピーク位置を自動で調整することで、温度や気圧などの変化によるドリフトの影響を最小限に抑えています。
*1 FOUNDRY MASTER Pro搭載CCDとの比較
長寿命と低ランニングコスト
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直接測光方式(Direct Light Path)
本装置では、光ファイバーを使用しない直接測光方式にすることで、光ファイバやレンズなどの光学系部品のメンテナンス頻度や経年劣化の影響を最小限に抑えています。光学系をコンパクトに設計することで、少ないArガスで運用できるため、日々のランニングコストも低減することができます。 -
メンブレンポンプの採用
メンブレンポンプは騒音発生を抑え、オイルレスで稼働するため日常でのメンテナンスを軽減します。
小型でコンパクト
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卓上に設置可能
コンパクトで軽量な筐体は、卓上に設置が可能。据置用の専用架台(収納付き)もありますので、設置場所を選びません
仕様
| OE750 | |
| 装置寸法(卓上) (横幅/奥行/高さ) |
425 mm / 535 mm / 760 mm |
| 重量 | 88 kg |
| 光学系 | パッシェンルンゲ |
| 焦点距離 | 400 mm |
| 検出器 | Multi-CMOS |
| 光学系雰囲気 | 中圧真空 |
| 観察波長範囲 | 119-766 nm |
| 測定可能合金種 | 鉄：低合金鋼、鋳鋼、ステンレス鋼、工具鋼、ニッケルクロム鋼、他 非鉄：アルミニウム合金、銅合金、ニッケル合金、亜鉛合金、チタン合金、コバルト合金、スズ合金、鉛合金、マグネシウム合金 |
