CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE720
CMOS検出器搭載により、より精度の高い分析を可能にしたフラグシップモデルです。
非鉄/ダイカスト向けにカスタマイズし、余分な機能をそぎ落とすことで、導入コストに加えて、ランニングコストの削減に成功しました。
価格：お問い合わせください
取扱会社：株式会社 日立ハイテクサイエンス
特長
高い検出感度と測定精度
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CMOSセンサの採用
検出器をCCDからCMOSに変更することで、分解能が従来機と比較して倍に向上しています*1。 -
様々な合金の微量有害元素や不純物の検出
鉄鋼中のN(窒素)やアルミニウムダイカストにおけるリン(P)、リチウム(Li)、ビスマス(Bi)、アンチモン(Sb)、カルシウム(Ca)など様々な有害元素の検出が標準で可能になりました。また欧州規格に採用されているストロンチウム(Sr)も標準で対応可能です。 -
ピークポジションアライメントシステムの採用
ピークポジションアライメントシステムは、取得するスペクトルのピーク位置を自動で調整することで、温度や気圧などの変化によるドリフトの影響を最小限に抑えています。
*1 FOUNDRY MASTER Pro搭載CCDとの比較
長寿命と低ランニングコスト
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直接測光方式(Direct Light Path)
本装置では、光ファイバーを使用しない直接測光方式にすることで、光ファイバやレンズなどの光学系部品のメンテナンス頻度や経年劣化の影響を最小限に抑えています。光学系をコンパクトに設計することで、少ないArガスで運用できるため、日々のランニングコストも低減することができます。 -
メンブレンポンプの廃止
高い真空度を保持するためのポンプですが、アルミダイカストや亜鉛ダイカストにおける主元素及び、微量元素はポンプ無しでも測定することができることがわかりました。ポンプを使用することで発生するコストを削減することができます。
小型でコンパクト
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卓上に設置可能
コンパクトで軽量な筐体は、卓上に設置が可能。据置用の専用架台(収納付き)もありますので、設置場所を選びません。
仕様
| OE720 | |
| 装置寸法(卓上) (横幅/奥行/高さ) |
425 mm/535 mm/760 mm |
| 重量 | 84 kg |
| 光学系 | パッシェンルンゲ |
| 焦点距離 | 400 mm |
| 検出器 | Multi-CMOS |
| 光学系雰囲気 | アルゴンガス |
| 観察波長範囲 | 174-766 nm |
| 測定可能合金種 | 鉄：低合金鋼、鋳鋼、ステンレス鋼、工具鋼、ニッケルクロム鋼、他 非鉄：アルミニウム合金、銅合金、ニッケル合金、亜鉛合金、チタン合金、スズ合金、鉛合金、マグネシウム合金 |
