AMICS自动化矿物学分析系统 (MLA)
特点
- 通过成熟的日立扫描电镜的高灵敏度BSE（背散射电子），实现了高精度成像
- 通过先进的图像分析处理功能，提高了分割颗粒/晶粒/相位的能力
- 通过卓越的分割和元素分析的鉴定技术，实现了快速自动分析
- 搭载综合专用数据库，用于快速矿物鉴定。
- 可通过多样品支架实现自动分析。
日立 BSE SEM 图像
AMICS 分割图像
X射线分析和矿物分类
产品详细信息 - 与 AMICS 兼容的部分日立扫描电子显微镜 (SEM)
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