ナノテクノロジー
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ナノテクノロジーに関する分析事例を掲載しています。
ナノテクノロジー アプリケーションブリーフ
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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM) | ||
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SPI No.69 | 垂直磁気異方性を有する高周波軟磁性膜の高分解能MFM観察 | |
SPI No.67 | 位相測定によるポリスチレン/ポリブタジエンブレンド材の モルフォロジー観察 |
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SPI No.66 | AFMスクラッチによる氷の融解 | |
SPI No.65 | 原子間力顕微鏡による氷の観察 | |
SPI No.64 | FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる 低ダメージ効果のSPMによる検証 |
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SPI No.63 | SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- |
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SPI No.61 | 水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用 | |
SPI No.60 | 鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ/ 基板の界面構造観察 |
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SPI No.59 | 燃料電池への応用 | |
SPI No.58 | ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界 | |
SPI No.57 | 単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動 | |
SPI No.56 | ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察 | |
SPI No.55 | 六角格子ネットワークの高分解能MFM観察 | |
SPI No.54 | 温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察 | |
SPI No.53 | 2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定 | |
SPI No.52 | 押出し形成PETシートの表面転移温度測定 | |
SPI No.47 | 走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察 | |
SPI No.46 | 走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム薄膜層の観察 | |
SPI No.45 | カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察 | |
SPI No.44 | ポリプロピレンブロックコポリマーのガラス転移現象その場観察 | |
SPI No.43 | 水中における毛髪の表面形状観察 | |
SPI No.42 | 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの結晶ラメラ観察 | |
SPI No.41 | フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察 | |
SPI No.40 | 銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察 | |
SPI No.39 | スチレン・ブタジエン・スチレンブロック共重合体の ミクロ相分離構造の観察 |
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SPI No.38 | フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価 Ⅱ | |
SPI No.35 | 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーの モルフォロジー観察 |
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SPI No.34 | ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析 | |
SPI No.33 | SPMによるアドヒージョン測定(吸着力分布測定) | |
SPI No.30 | 外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡(MFM)測定 | |
SPI No.29 | 位相検出法による磁気力顕微鏡(MFM)測定 | |
SPI No.28 | Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察 | |
SPI No.27 | 連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察 | |
SPI No.26 | Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察 | |
SPI No.25 | SPMによる液中AFM測定 | |
SPI No.24 | 隕石中の磁性物質のMFM観察 | |
SPI No.23 | MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察 | |
SPI No.21 | Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察 | |
SPI No.20 | MFM(Magnetic Force Microscope) ~ 磁気力顕微鏡の紹介 | |
SPI No.19 | ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察 | |
SPI No.18 | 顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察 | |
SPI No.17 | ゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察 | |
SPI No.16 | プラスチック(PBT・ABSブレンド)表面のLM-FFM観察 | |
SPI No.15 | フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察 | |
SPI No.14 | FFM(摩擦力顕微鏡)とLM-FFM(横振動摩擦力顕微鏡)について | |
SPI No.13 | 金属酸化膜のKFM観察 | |
SPI No.12 | 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定 | |
SPI No.11 | ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察 | |
SPI No.10 | LB膜のVE-AFM観察 | |
SPI No.09 | SPMによる位相測定 | |
SPI No.06 | 生きたガン細胞の直接観察 | |
SPI No.05 | ラット繊毛切片のDFM観察 | |
SPI No.04 | コラーゲン細繊維のDFM観察 | |
SPI No.03 | 走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察 | |
SPI No.02 | 走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察 | |
SPI No.01 | SPM概要 | |
NPX No.20 | 超精密加工における加工面評価手法について(Nanopics) | |
NPX No.16 | オプションソフトを使用した薄膜評価(Nanopics) | |
NPX No.12 | 金属仕上げ加工条件の違いによる表面形状の差異 (ボールベアリングの溝)(Nanopics) |
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NPX No.11 | 薄膜硬度計の圧痕(Nanopics) | |
NPX No.09 | 研削・研磨面形状評価(Nanopics) | |
NPX No.03 | Nanopics(AFM)を用いた工程評価(Nanopics) |
走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM) | ||
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SMI No.12 | SIM像の特徴 | |
SMI No.11 | FIBによる断面加工・観察技術 | |
SMI No.10 | ナノピンセットシステムによるTEM観察用試料の In-situ試料 ハンドリング |
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SMI No.08 | 厚み管理ソフトの紹介 | |
SMI No.06 | 斜め加工によるTEM試料作製 | |
SMI No.05 | トリプルビーム装置によるFIBダメージ層除去 | |
SMI No.04 | HRTEM観察用新型メッシュ“ナノメッシュ”の紹介 | |
SMI No.02 | Cut&See Proの紹介 | |
FIB No.07 | 精密金型作製への応用 | |
FIB No.02 | FIBによる微細加工 | |
FIB No.01 | 3Dナノ構造物の作製 |