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日立ハイテク
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生産終了のお知らせ

製品のカテゴリーから、生産終了品を探す。

熱分析・粘弾性装置

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
示差走査熱量計 DSC6100 2012年11月 2019年11月
示差走査熱量計 DSC6200 2012年11月 2019年11月
示差走査熱量計 DSC6220 2012年11月 2019年11月
示差走査熱量計 DSC6300 2012年11月 2019年11月
示差熱熱重量同時測定装置 TG/DTA6200 2012年11月 2019年11月
示差熱熱重量同時測定装置 TG/DTA6300 2012年11月 2019年11月
熱機械的分析装置 TMA/SS6100 2012年11月 2019年11月
熱機械的分析装置 TMA/SS6200 2012年11月 2019年11月
熱機械的分析装置 TMA/SS6300 2012年11月 2019年11月
粘弾性測定装置 DMS6100 2013年2月 2020年2月
示差熱熱重量同時測定装置 STA7200(TG/DTA200) 2020年1月 2027年1月
示差熱熱重量同時測定装置 STA7300(TG/DTA7300) 2020年1月 2027年1月
示差熱熱重量同時測定装置 STA7200RV 2020年1月 2027年1月
示差熱熱重量同時測定装置 TG/DTA7220 2020年1月 2027年1月
示差走査熱量計 DSC7020 2022年3月 2029年3月
示差走査熱量計 DSC7000X(X-DSC7000) 2022年3月 2029年3月

液体クロマトグラフ

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
ポンプ L-7110 2003年12月 2013年12月
オートサンプラ L-7200 2003年12月 2013年12月
オートサンプラ L-7250 2003年12月 2013年12月
カラムオーブン L-7300 2003年12月 2013年12月
UV検出器 L-7405 2003年12月 2013年12月
UV-VIS検出器 L-7420 2003年12月 2013年12月
ダイオードアレイ検出器 L-7455 2003年12月 2013年12月
蛍光検出器 L-7485 2003年12月 2013年12月
RI検出器 L-7490 2003年12月 2013年12月
デガッサ L-7610 2003年12月 2013年12月
ポンプ L-7100 2003年12月 2013年12月
蛍光検出器 L-2480 2006年2月 2016年2月
ダイオードアレイ検出器 L-2450 2006年2月 2016年2月
電導度検出器 L-7470 2006年6月 2016年6月
イナートポンプ L-7120 2010年1月 2020年1月
オートサンプラ(冷却付)P/N891-0210 L-2200U 2010年2月 2020年2月
分取ポンプ L-7150 2010年4月 2020年4月
クロマトデータ処理装置 D-2500 2011年9月 2021年9月
GPC用データ処理装置 D-2520 2011年9月 2021年9月
ポンプ L-2130 2012年3月 2022年3月
ポンプ L-2100 2012年3月 2022年3月
オートサンプラ L-2200 2012年3月 2022年3月
オートサンプラ(冷却付) L-2200 2012年3月 2022年3月
UV検出器 L-2400 2012年3月 2022年3月
UV-VIS検出器 L-2420 2012年3月 2022年3月
蛍光検出器 L-2485 2012年3月 2022年3月
RI検出器 L-2490 2012年3月 2022年3月
電導度検出器 L-2470 2012年3月 2022年3月
ダイオードアレイ検出器 L-2455 2012年3月 2022年3月
UV-VIS検出器 L-2420U 2012年9月 2022年9月
反応ユニット L-5050 2013年1月 2023年1月
リーゼント装置 2013年1月 2023年1月
NanoFrontier nLC(オートサンプラシステム) 2013年5月 2023年5月
NanoFrontier nLC(マニュアルシステム) 2013年5月 2023年5月
超高速LC用送液システム 2013年8月 2023年8月
超高速LC用送液システム(低容量) 2013年8月 2023年8月
ポンプ L-2160U 2013年8月 2023年8月
オートサンプラ L-2200U 2013年8月 2023年8月
オートサンプラ(冷却付)P/N 891-0270 L-2200U 2013年8月 2023年8月
カラムオーブン L-2300 2013年8月 2023年8月
カラムオーブン L-2350 2013年8月 2023年8月
UV検出器 L-2400U 2013年8月 2023年8月
蛍光検出器 L-2485U 2013年8月 2023年8月
ダイオードアレイ検出器 L-2455U 2013年8月 2023年8月
オーガナイザ 2013年8月 2023年8月
高速アミノ酸分析計 L-8900 2019年3月 2029年3月
オートサンプラ CM5210 2020年9月 2030年9月
オートサンプラ(冷却付) CM5210 2020年9月 2030年9月

分光蛍光光度計(FL)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
分光蛍光光度計 F-4500 2005年12月 2015年12月
分光蛍光光度計 F-2500 2009年6月 2019年6月

分光光度計(UV-Vis/NIR)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
レシオビーム分光光度計 U-1500 2002年10月 2012年10月
ダブルビーム分光光度計 U-2001 2002年10月 2012年10月
ダブルビーム分光光度計 U-2010 2002年10月 2012年10月
顕微分光光度計 U-6500 2003年5月 2013年5月
ダブルビーム分光光度計 U-2800 2005年9月 2014年6月
ダブルビーム分光光度計 U-2800A 2006年11月 2014年6月
レシオビーム分光光度計 U-1800 2007年6月 2014年6月
ダブルビーム分光光度計 U-2810 2007年6月 2014年6月
分光光度計 U-3010 2008年1月 2018年1月
分光光度計 U-3310 2008年1月 2018年1月
真空紫外分光光度計 U-7000 2009年12月 2019年12月
ダイオードアレー型バイオ光度計 U-0080D 2010年2月 2020年2月
レシオビーム分光光度計 U-1900 2010年2月 2020年2月
分光光度計 U-4100 2014年10月 2024年10月
分光光度計 UH4150AD 2021年8月 2031年8月

原子吸光光度計

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-5010 2005年3月 2015年3月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-5310 2005年3月 2015年3月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-5710 2005年3月 2015年3月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2000 2007年9月 2017年9月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2300 2007年9月 2017年9月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2700 2007年9月 2017年9月
原子吸光光度計 A-1000 2008年2月 2015年2月
原子吸光光度計 A-2000 2008年2月 2015年2月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2010 2013年2月 2023年2月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2310 2013年2月 2023年2月
偏光ゼーマン原子吸光光度計 Z-2710 2013年2月 2023年2月

ICP発光分光分析装置(ICP-OES)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
ICP発光分析装置 P-4010 2003年6月 2013年6月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS7000A 2000年8月 2007年8月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS4000シリーズ 2003年11月 2010年11月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS1700シリーズ 2001年8月 2008年8月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS7700 2002年7月 2009年7月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3000シリーズ 2002年12月 2009年12月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3100シリーズ 2009年10月 2016年10月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3500シリーズ 2012年9月 2019年9月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS7800 2013年9月 2020年9月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) SPS3500-DDシリーズ 2014年2月 2021年2月
ICP発光分光分析装置(シーケンシャル型) PS3500DDシリーズ 2015年7月 2022年7月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) Vista-MPX 2006年8月 2013年8月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS6100シリーズ 2006年8月 2013年8月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS5000シリーズ 2007年5月 2014年5月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS5100シリーズ 2007年5月 2014年5月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) Vista-PRO 2007年5月 2014年5月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPS5500シリーズ 2011年3月 2018年3月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) ARCOS FHX12 2015年3月 2022年3月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) ARCOS FHX16 2015年3月 2022年3月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) ARCOS FHX22 2023年2月 2030年2月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) ARCOS FHX26 2023年2月 2030年2月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPECTROBLUE FMX16 2016年12月 2023年12月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPECTROBLUE FMX26 2016年12月 2023年12月
ICP発光分光分析装置(多元素同時型) SPECTROBLUE FMX36 2021年5月 2028年5月

ICP質量分析装置(ICP-MS)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
ICP質量分析装置 P-5000* 2004年10月 2014年10月
ICP質量分析装置 SPQ9000 2001年12月 2008年12月
ICP質量分析装置 SPQ9100 2003年9月 2010年9月
ICP質量分析装置 SPQ9200 2005年3月 2012年3月
ICP質量分析装置 SPQ9400 2006年3月 2013年3月
ICP質量分析装置 SPQ9500 2006年3月 2013年3月
ICP質量分析装置 SPQ9600 2007年10月 2014年10月
ICP質量分析装置 SPQ9700 2012年7月 2019年7月
ICP質量分析装置 SPQ9700II 2013年10月 2020年10月

蛍光X線分析装置

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
エレメントモニタ SEA2001 2001年11月 2008年11月
エレメントモニタ SEA2010 2004年7月 2011年7月
エレメントモニタ SEA2110
SEA2120
2004年4月 2011年4月
エレメントモニタ SEA2210
SEA2220
2004年8月 2011年8月
エレメントモニタ SEA5100
SEA5120
SEA5120HTW
2005年10月 2011年10月
エレメントモニタ SEA5200(A)シリーズ 2007年9月 2014年9月
有害物質モニタ SEA1000A 2009年1月 2016年1月
フィールドエックス SEA200 2009年2月 2016年2月
エレメントモニタ SEA2100Lシリーズ 2010年9月 2017年9月
エレメントモニタ SEA5120Aシリーズ 2011年5月 2018年5月
土壌モニタ SEA1100 2011年12月 2018年12月
エレメントモニタ SEA2200Aシリーズ 2012年6月 2019年6月
有害物質モニタ SEA1000A II 2014年1月 2021年1月
エレメントモニタ SEA1200VX 2014年1月 2021年9月
エレメントモニタ SEA6000VX 2014年1月 2021年9月
食品モニタ SEA1300VX 2014年1月 2021年9月
食品モニタ EA1300VX 2019年3月 2026年3月
X線異物解析装置 SEA-Hybrid 2014年1月 2024年1月
X線異物解析装置 EA8000 2020年8月 2030年8月
エレメントモニタ EA1200VX 2021年3月 2028年3月
エレメントモニタ EA1000VX 2021年3月 2028年3月
エレメントモニタ EA6000VX 2023年6月 2030年6月

蛍光X線膜厚計

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
蛍光X線膜厚計 SFT7000シリーズ 2003年11月 2004年11月
蛍光X線膜厚計 SFT3000シリーズ 2001年3月 2008年3月
蛍光X線膜厚計 SFT3000Sシリーズ 2005年6月 2012年12月
蛍光X線膜厚計 SFT9100シリーズ 2008年6月 2016年12月
蛍光X線膜厚計 SFT9200 2013年4月 2020年4月
蛍光X線膜厚計 SFT9250、SFT9255 2014年1月 2021年9月
蛍光X線膜厚計 SFT9300シリーズ 2014年1月 2021年9月
蛍光X線膜厚計 SFT9400シリーズ 2014年1月 2021年9月
蛍光X線膜厚計 SFT9500シリーズ 2014年1月 2021年9月
蛍光X線膜厚計 SFT9500Xシリーズ 2014年1月 2021年9月
蛍光X線膜厚計 SFT-110 2014年1月 2021年9月
蛍光X線膜厚計 SFT110A 2015年3月 2022年3月
蛍光X線膜厚計 FT9500シリーズ 2015年9月 2022年9月
蛍光X線膜厚計 FT9500Xシリーズ 2017年3月 2024年3月
蛍光X線膜厚計 FT9250、FT9255 2019年3月 2026年3月
蛍光X線膜厚計 FT9300シリーズ 2019年3月 2026年3月
蛍光X線膜厚計 FT9400シリーズ 2019年3月 2026年3月
蛍光X線膜厚計 FT150シリーズ 2020年9月 2027年9月

微生物迅速検査装置

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
微生物迅速検査装置 BL-1000 2018年6月 2026年12月
微生物迅速検査装置 BL-2000 2022年7月 2032年7月

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
プローブ顕微鏡測定ユニット SPA-500 2007年5月 2014年5月
プローブ顕微鏡測定ユニット L-trace 2007年7月 2014年7月
プローブステーション SPI3800N 2008年12月 2015年12月
プローブ顕微鏡測定ユニット SPA-300HV 2008年7月 2015年7月
プローブステーション NanoNavi IIe 2010年3月 2017年3月
プローブステーション SPI4000 2010年12月 2017年12月
プローブステーション NanoNavi 2011年1月 2018年1月
プローブ顕微鏡測定ユニット SPA-400 2012年2月 2019年2月
プローブステーション NanoNavi IIs 2012年10月 2019年10月
プローブ顕微鏡測定ユニット L-trace II 2013年3月 2020年3月
プローブステーション NanoNavi II 2013年12月 2020年12月
プローブステーション AFM5010(NanoNavi Real s) 2015年1月 2022年1月
プローブ顕微鏡測定ユニット E-sweep 2014年4月 2021年4月
プローブ顕微鏡測定ユニット AFM5200S 2021年10月 2028年10月
プローブ顕微鏡測定ユニット AFM5400L 2021年10月 2028年10月
プローブステーション AFM5000 2021年10月 2028年10月
プローブステーション NanoNavi Real 2014年4月 2021年4月
プローブ顕微鏡測定ユニット Nanocute 2014年1月 2021年1月
プローブ顕微鏡測定ユニット S-image 2013年9月 2020年9月

走査白色干渉顕微鏡(CSI)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
走査白色干渉顕微鏡 VS1530 2019年3月 2026年3月
走査白色干渉顕微鏡 VS1540 2019年3月 2026年3月
走査白色干渉顕微鏡 VS1550 2019年3月 2026年3月

ガスクロマトグラフ

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
ガスクロマトグラフ G-3500 2005年3月 2012年3月
ガスクロマトグラフ G-3900 2005年3月 2012年3月
ガスクロマトグラフ G-7000 2005年3月 2012年3月
ガスクロマトグラフ G-6000 2008年3月 2015年3月
標準油作製装置 SO-4900 2008年8月 2015年8月
油中ガス分析装置 TG-4900 2011年2月 2018年2月

質量分析装置

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
質量分析装置 M-2500* 1995年9月 2005年9月
質量分析装置 M-7200/M-7200A* 2000年3月 2010年3月
質量分析装置 M-1200* 2000年9月 2010年9月
質量分析装置 M-4100* 2000年10月 2010年10月
質量分析装置 M-9000* 2004年10月 2014年10月
質量分析装置 M-8000* 2004年10月 2014年10月
Nano Frontier L* 2009年3月 2019年3月
Nano Frontier LD* 2011年3月 2021年3月
Nano Frontier eLD* 2012年5月 2022年5月
二次元HPLC(NanoFrontier L用)* 2012年5月 2022年5月

マイクロ波プラズマ導入質量分析装置(MIP-MS)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
マイクロ波プラズマ導入質量分析装置 P-6000* 2003年6月 2013年6月

核磁気共鳴装置(NMR)

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
核磁気共鳴装置(NMR) R-1500* 2000年10月 2010年10月

ガスバリア試験装置

製品名 型式 生産終了年月 消耗品・保守部品
保有期限
酸素透過率測定装置 OX-TRAN2/21ML 2016年1月 製品購入後10年間
酸素透過率測定装置 OX-TRAN2/21MH 2016年1月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-W 3/33 MG+ 2016年1月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-W 3/33 MA 2016年1月 製品購入後10年間
酸素透過率測定装置 OX-TRAN 2/21 SL 2016年7月 製品購入後10年間
酸素透過率測定装置 OX-TRAN 2/21 SH 2016年7月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-W 3/33 SG+ 2016年7月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-W 3/33 SA 2016年7月 製品購入後10年間
酸素透過率測定装置 OX-TRAN 2/21 M10x 2017年1月 製品購入後10年間
酸素透過率測定装置 OX-TRAN 2/21 S10x 2017年1月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-C 10 2017年1月 製品購入後10年間
超高感度水蒸気
透過率測定装置
AQUATRAN 2 2017年12月 製品購入後10年間
酸素透過率測定装置 OX-TRAN 2/61 2020年12月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-W 3/61 2020年12月 製品購入後10年間
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-C 4/41 2020年12月 製品購入後10年間

更新日:2023年5月8日

*は、日立製作所として製造・販売した装置です。

上記にて見つからない場合は、お近くの営業所までお問い合わせください。

関連情報

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