ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 製品サービス・ソリューション
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)
  5. CADナビゲーションシステム NASFA (Navigation System of Failure Analysis)

CADナビゲーションシステム NASFA (Navigation System of Failure Analysis)

-

CADナビゲーションシステム(CAD-Navi)を使えば、SEMもしくはFIBで観察しているLSIの配線が、CADデータのどの配線に対応するのかを確認することができます。
CADデータ上の座標位置を指定することにより、装置のステージがその座標に連動し、対応する箇所のSEM像(FIBの場合SIM像)を表示します。
またCADデータとSEM像を重ね合わせて表示(オーバレイ表示)ができますので下層配線の位置確認が容易に行なえ、解析作業の大幅な効率アップが望めます。

価格:お問い合わせください

取扱会社:株式会社 日立ハイテク

システム構成例

FE-SEM/FIB装置とCADナビゲーション(CAD-Navi)とのシステム例

-
CAD-Navi構成品目:NASFA(ソフト)/ワークステーション/PC

FIB

SIM像
SIM像
CADデータ
CADデータ
オーバーレイ表示(SIM像+CADデータ)
オーバーレイ表示(SIM像+CADデータ)

S-4800

オーバーレイ表示(SEM像+CADデータ)
オーバーレイ表示(SEM像+CADデータ)
CADデータ
CADデータ

トピックス

Scientific Instrument NEWS SI NEWSとは

・技術機関誌 SI NEWSの関連記事のご案内
1958年の創刊以来、SI NEWS(エスアイニュース)は、弊社製品を使用した社内外の研究論文、アプリケーションおよび新製品情報を公開しています。
マイクロサンプリング® システムの記事のご案内です。

関連情報

カタログ

お問い合わせ