固体発光分光分析装置（OES）
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固体発光分光分析は、金属試料をスパーク放電により励起し、発光スペクトルを観察することで、成分分析を行う分析で、カントバックとも言われています。
Hitachi High-Tech Analytical Science社ではCCDセンサやCMOSセンサを搭載した光学系を採用し、コンパクトなサイズで、多元素を同時に分析することを可能にしており、鉄鋼や鋳物、非鉄金属分析における、品質管理から研究用途まで幅広いラインアップを提供しています。
CCDセンサ搭載モデルとCMOSセンサ搭載モデルをラインアップしています。
CCD搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 FM Expert
CCD検出器搭載のエントリーモデル 汎用機でありながら、高い検出感度で鉄鋼中の窒素(N)検出も可能な、鉄鋼、鋳鉄、非鉄、ダイカスト対応モデルです。
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CCD搭載 卓上型固体発光分光分析装置 FOUNDRY MASTER Smart
CCD検出器搭載の品質管理の決定版 鉄鋼、非鉄鋳物、ダイカスト材であるADCやZDCの成分管理に最適な、コストパフォーマンスに優れた品質管理の決定版
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CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE720
CMOS検出器搭載の非鉄/ダイカストモデルです。 規格元素はもちろん、PやLi、Ti、Feなどの微量元素も測定可能です。
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CMOS搭載 卓上/据置型固体発光分光分析装置 OE750
CMOS検出器搭載により、より精度の高い分析を可能にしたフラグシップモデルです。 新たな光学系によりシリーズ最高の精度ながら、コンパクトになった筐体は卓上に設置が可能であり、研究、品質管理、品質保証と様々な場面で活躍できます
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可搬型OES PMI-MASTERシリーズ
PMI(Positive Material Identification)や品質管理の現場に最適な可搬型のOES(発光分光分析)装置です。
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アプリケーションデータ
固体発光分光分析装置（OES）のアプリケーションを紹介しています。
テクニカルサポート
固体発光分光分析装置（OES）に関する最新情報を紹介しています。
固体発光分光分析装置(OES)の原理解説のご紹介です。
固体発光分光分析における前処理について、実例の紹介です。