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重電
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可搬型OES PMI-MASTERシリーズ
可搬型のOES(発光分光分析)装置です。LiやCなど、Al合金やスチールにおいて重要な元素でありながら従来の測定方法では定量が難しかった元素の測定を、モバイル装置で実現しました。従来では測定の難しかった工場内の設備など、PMI(Positive Material Identification)や品質管理の現場に最適な分析装置です。
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ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ
ハンドヘルドタイプのLIBS（レーザー誘起ブレークダウン法）装置です。圧倒的な分析速度に加え、アルミニウムなどの軽元素に強いため、日々におけるサンプルの大量測定に最適な分析手法です。
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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ
"実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。"
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卓上X線検査装置
・世界最高峰の分解能を誇る、自社開発X線源による、解析用途X線検査装置 ・ユーザーライクなデザインによる「使い易い」装置 ・オプションによる ・3次元CT解析 ・加熱動画観察 ・自動検査装置
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超音波映像装置 FineSAT III
超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。
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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。
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ナノ3D光干渉計測システムVS1800
ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。
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プロセス電子プリンター CyberPrinter
EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。
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総合計装システム EX-N01A
"日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環 境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛 躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それ が「EX-N01A」です。"
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日立ハイテクの材料開発ソリューション
MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。
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X線CTシステム：非破壊検査｜世界最大級の高エネルギーX線CT
世界最大級9MVの高エネルギーX線CTシステム。大型製品や高密度材、複合材に対応。欠陥検出、形状計測から、密度解析、CAE連携によるリバースエンジニアリングまでモノづくりを支援。