業種業界から探す 紙・繊維・パルプ
紙・繊維・パルプ
![電子顕微鏡周辺装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![金型管理サービス](/jp/ja/media/hnx054_main_jpg_tcm26-29491.jpg)
![フィールド機器・分析計](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![製造実行系システム](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![プロセス電子プリンター CyberPrinter](/jp/ja/media/cyberprinter_main_png_tcm26-30675.png)
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プロセス電子プリンター CyberPrinter
EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。
![パネル計器](/jp/ja/media/index_main_png_tcm26-83717.png)
![総合計装システム EX-N01A](/jp/ja/media/ex_n01_main_png_tcm26-27451.png)
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総合計装システム EX-N01A
日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それが「EX-N01A」です。
![予兆・診断システム「BD-CUBE」](/jp/ja/media/fv_front_png_tcm26-83338.png)
![検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)](/jp/ja/media/fv_front_png_tcm26-83442.png)
![走査型白色干渉顕微鏡 VS1330](/jp/ja/media/vs1000_main_tcm26-56719.jpg)
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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。
![ナノ3D光干渉計測システムVS1800](/jp/ja/media/vs1800_main_tcm26-58360.png)
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ナノ3D光干渉計測システムVS1800
ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。
![集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ](/jp/ja/media/ana-za3000_main_jpg_tcm26-27142.jpg)
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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ
日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。
![蛍光X線分析装置(XRF)](/jp/ja/media/main_ea1400_png_tcm26-79009.png)
![電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)](/jp/ja/media/main_jpg_tcm26-78945.jpg)
![液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![熱分析・粘弾性装置](/jp/ja/media/main_16_png_tcm26-78901.png)
![ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ](/jp/ja/media/ana-x_met8000_main_jpg_tcm26-78043.jpg)
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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ
実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。
![ガスバリア試験装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![計測・試験・分析 受託評価サービス](/jp/ja/media/index_main_png_tcm26-35157.png)
![日立ハイテクの材料開発ソリューション](/jp/ja/media/solution_thumb_tcm26-187595.png)
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日立ハイテクの材料開発ソリューション
MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。