분광형광 현미경 – EEM® View –
![분광형광 현미경 – EEM® View –](/kr/ko/media/ana-eemview_main_jpg_tcm40-26919.jpg)
시료의 스펙트럼 측정 및 관찰을 동시에 구현한 새로운 개념의 시스템입니다. 관찰 화상으로부터 AI 기술을 응용한 해석 알고리즘에 의해 형광 화상과 반사 화상으로 분리 표시하는 것과 동시에, 화상으로부터 구획 별로 스펙트럼화 (형광 스펙트럼 및 반사 스펙트럼)가 가능 합니다.
*1 The spectral analysis algorithm was developed in joint research by Professor Imari SATO and Associate Professor Yinqiang ZHENG of the National Institute of Informatics.
* (가격에는 분광형광광도계 본체와 PC는 포함되지 않습니다. 사진은 F-7100 형 형광 광도계의 구성 예) “EEM“은 히타치하이테크사이언스의 상표입니다.
특징
EEM View 라는 것은
![Image of EEM View](/kr/ko/media/ana-eemview_01_png_tcm40-28115.png)
형광 및 반사 화상의 스펙트럼을 동시에 취득할 수 있는 신기술입니다.
- 시료의 스펙트럼 데이터 (분광 및 형광 특성)를 측정
-
각 조명 조건 (백색광 및 단색광)에 따라 화상을 촬영
(영역: Φ 20 mm, 파장 범위: 380-700 nm) - AI 기술을 응용한 해석 알고리즘*1 에 의한 형광 화상과 반사 화상의 분리 보기
- 화상으로부터 구획 별로 스펙트럼 화 *1 (형광 스펙트럼 및 반사 스펙트럼)가 가능
*1 The spectral analysis algorithm was developed in joint research by Professor Imari SATO nd Associate Professor Yinqiang ZHENG of the National Institute of Informatics.
![EEM View Analysis screen (sample: LED substrate)](/kr/ko/media/ana-eemview_02_jpg_tcm40-26908.jpg)
분광형광 현미경의 개요
적분구를 채용한 균일 조명 시스템
시료의 형광/반사 화상 및 스펙트럼을 동시에!
- 적분구로 조명을 확산화
- 그늘 없는 조명으로 시료를 균일 조사
- 형광분광기와 CMOS 카메라의 듀얼 검출
분광형광 현미경은 F-7100 형 형광광도계의 시료실 안에 장착 가능한 옵션입니다. 적분구로 입사광을 조사하여 균일한 조명 조건에서 시료를 관찰할 수 있습니다. 기존의 형광 쪽 분광기로 형광 스펙트럼을 얻고, 적분구 아래쪽 CMOS 카메라 장치에서 화상을 동시에 취득 합니다.
![Schematic diagram of EEM View](/kr/ko/media/ana-eemview_03_jpg_tcm40-26339.jpg)
쉬운 설치, 다양한 시료의 설치에 대응!
시료는 적분구의 위쪽에 간단 설치!
![Appearance of sample mounting area](/kr/ko/media/ana-eemview_04_jpg_tcm40-26340.jpg)
![Mounting holder of many types of samples](/kr/ko/media/ana-eemview_05_jpg_tcm40-26341.jpg)
- 판상 시료: 석영창에 끼워 시료를 설치합니다.
- 분말 시료: 분말 시료용 용기에 분말을 넣어, 시료를 설치 합니다. 또한 다른 옵션인 고체 시료 홀더에 동봉된 분말 셀의 사용도 가능 합니다.
![Calibration tools to support reliable measurements](/kr/ko/media/ana-eemview_06_jpg_tcm40-26342.jpg)
- 보정 검사를 위한 형광 표준 샘플이 포함 되어 있습니다.
- 제공된 표준 백판 (100%)와 브랭크 판 (0%)을 이용하여 보정을 수행 합니다. 형광 강도 및 반사율의 교정, 그리고 화상에 따른 면 내의 휘도 분포의 보정에 사용 됩니다.
측정 예
【응용 예】 미세 구조 소재의 형광 특성 및 구조 확인
가시성을 향상 시키기 위해 미세 구조가 있는 형광 반사 시트를 측정 했습니다.
![A fluorescent reflective sheet with a microstructure to improve its visibility was measured](/kr/ko/media/ana-eemview_07_jpg_tcm40-26343.jpg)
스펙트럼 데이터와 화상의 동시 취득
![Simultaneous capture of spectrum data and image](/kr/ko/media/ana-eemview_08_jpg_tcm40-26914.jpg)
시료에 입사 광선으로 360 nm ~ 700 nm및 백색광을 조사 합니다. 이 때, 각 조명 조건에 따라 화상을 취득함과 동시에, 형광 쪽 분광기로 형광 스펙트럼을 취득합니다. 측정 후에는 3 차원 형광 스펙트럼 (여기 파장, 형광 파장, 형광 강도)이 표시 됩니다. 전용 해석 소프트웨어에서는 화상의 확대 보기 및 구획 별 형광/반사 스펙트럼의 보기가 가능합니다. 면 내에서 불균일은 시료의 반사 및 형광 분포를 화상 및 스펙트럼으로 간주될 수 있습니다.
구획 별 스펙트럼 계산, 보기 (형광/반사)
![Spectral calculation and display of each partition (fluoresence)](/kr/ko/media/ana-eemview_09_jpg_tcm40-26345.jpg)
![Spectral calculation and display of each partition (reflection)](/kr/ko/media/ana-eemview_10_jpg_tcm40-26346.jpg)
분리 화상 보기 (형광/반사)
취득 화상의 반사광 성분 화상과 형광 성분 화상을 분리
![Separation of a captured image into a regrected light image and a fluorescence image](/kr/ko/media/ana-eemview_11_png_tcm40-26917.png)
![Graphs of calculated reflection spectrum and calculated fluorescence spectrum](/kr/ko/media/ana-eemview_12_jpg_tcm40-26918.jpg)
화상 분리 알고리즘에 의해 촬영 한 화상을 반사광 성분과 형광 성분으로 분리 했습니다. 그 결과, 반사 성분이 주황색이며 형광 성분은 녹색의 화상이었습니다. 각각의 반사 스펙트럼 및 형광 스펙트럼에 상당하는 분광색과 일치하고 있습니다. 본 시료는 주황색의 반사광과 녹색의 형광이 합해져 노란색으로 보이는 것 같습니다. 또한, 반사 화상과 형광 화상에서는 면 내의 광학 특성 (화상 패턴)이 다르다는 것을 확인할 수 있었습니다. 화상을 확대 하면 반사판 미세 구조가 약 200 μ m 주기로 있다는 것을 알 수 있습니다.
사양
주요 기능
항목 | 내용 |
---|---|
측정 부 (EEM View 모드) |
3 차원 형광 스펙트럼 측정 |
단색광 화상 촬영 | |
백색광 촬영 | |
미리 보기 촬영 | |
데이터 처리부 | 축소판 그림 보기 |
3 차원 형광 스펙트럼 보기 (등고선, 그라데이션) | |
여기/형광 스펙트럼 보기 | |
확대 화상 보기 | |
구획 보기 (1 × 1, 2 × 2, 3 × 3, 4 × 4, 5 × 5) | |
구획 별 스펙트럼 계산, 보기 (형광/반사) *1 | |
분리 화상 보기 (형광/반사) *1 |
*1 The spectral analysis algorithm was developed in joint research by Professor Imari SATO and Associate Professor Yinqiang ZHENG of the National Institute of Informatics.
사양
항목 | 내용 |
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조사 파장 | 360 nm ~700 nm |
카메라 | 컬러 (RGB) CMOS 센서 |
인터페이스 | USB3.0 |
유효 화소수 | 1920 × 1200(H×V) |
촬영 가능 파장 | 380 nm ~700 nm |
* 광도계의 주요 사양은 형광광도계 본체에 준합니다.
구성 예
명칭 | P/N (부품 번호) |
---|---|
F-7100, 형광광도계 | 5J1-0040 |
EEM View 옵션 | 5J0-0550 |
R928F PMT | 650-1246 |
보조 표준 광원 | 5J0-0110 |