형광X선분석장치 EA1400
RoHS 대응을 비롯하여, 슬래그, 시멘트 등의 공정관리 및 품질관리, 또한 혼입 이물질 및 이상부위 등의 고장해석 및 조사분석 등 다방면에 걸친 어플리케이션에서 높은 스루풋 분석을 제공합니다.
* 모니터화면은 이미지입니다.
특징
신형실리콘드리프트검출기（SDD）를 채용
・고감도 높은 스루풋측정
고에너지측의 양자 효율을 향상시킨, 새로운 실리콘 드리프트 검출기(SDD)를 탑재. Cd Kα, Pd Kα, Ba Kα 등의 에너지대에 대하여, 고감도로 높은 스루풋 측정을 실현합니다.
・고분해능・고계수율을 실현
고분해능・고계수율을 실현한 SDD에 의해, EA1400은 종래의 기기보다도 주성분에 근접하는 미량원소의 검출 성능이 뛰어나 금속종의 품질관리 등에 위력을 발휘합니다.
・진공시스템＋신개발SDD
진공 시스템과 새로운 SDD를 조합하는 것에 의해, 경원소의 감도가 대폭으로 향상되었기 때문에, 경원소를 포함한 슬래그와 시멘트 등의 공정관리 및 품질관리 강화에 공헌합니다.
RoHS대응을 비롯하여 폭넓은 영역에서 활약
・RoHS 대응 : 황동 중의 Cd 스크리닝 분석을 더욱 높인 스루풋화
황동등 금속에 포함되는 미량의 Cd의 측정시간에 있어서, 당사 종래기기(EA1000VX) 에 비해 2배 이상의 스루풋을 실현합니다.
| 원소 | Cd | Pb | Cr |
|---|---|---|---|
| 황동 | 4 | 13 | 11 |
* 각 검출 하한은 일예이며, 보증치는 아닙니다.
・제련로의 공정관리: 고감도에 의해 슬래그의 성분측정에서 신속・고정밀도를 실현
슬래그의 주요성분 Si, Ca, Al, Mg의 조성정보로부터 제련로(공정)의 상태를 관리합니다. 특히, 신형 SDD에 의해 Mg등 경원소의 정량 정밀도가 향상되었습니다.
・품질관리: 제품에 부착·매몰된 이물질을 검출
X선사면조사방식에서는 측정이 어려운 요철이 있는 모재에 부착된 이물질에 대하여, EA1400의 시료동축관찰・X선 수직조사방식에서는 이물질을 추출하지 않고도, 이물질 유래의 원소를 검출하여 물질을 동정할 수 있습니다.
사양
| 형식 | EA1400 |
|---|---|
| 측정원소 | Na(11)～U(92) |
| 분위기 | 대기사양（Al～U） 진공사양（Na～U） *옵션 |
| X선조사방식 | 하면수직조사형 |
| X선전원 | 소형공냉식X선관구 (Rh타겟) |
| 검출기 | 신형SDD |
| 분석영역 | 1,3,5 mmφ |
| 1차X선필터 | 5모드자동전환 |
| 시료실치수 | 304(W)×304(D)×110(H)mm |
| 장치치수 | 520(W)×600(D)×445(H)mm |
| 중량 | 69 kg |
| 전원 | AC100～240V (50/60Hz)/190VA |
| 샘플체인저 | 가능(12검체) *옵션 |
