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应用:纳米尺度3D光学干涉测量系统 (CSI)

我们在此向您介绍许多有关分析方法及使用我们的纳米尺度3D光学干涉测量系统 (CSI)获得的相应结果数据。
如有任何问题,请通过电子邮件(查询单)和我们联系。

HTD-CSI-E011 利用CSI评价铝箔表面的形貌 下载
HTD-SEM-E093 多层膜内异物分析 下载
HTD-SEM-E126 破骨细胞的扫描电镜和白光干涉仪成像观察 下载
HTD-AFM-E026 使用AFM和CSI测量超平聚酯纤维薄表面的纳米3D形貌 下载
HTD-CSI-006 胶囊包装PTP片的厚度不均衡评价 下载
CSI-CN01 多层膜无损测量分析 下载

产品活动信息

分析仪器·电子显微镜·原子力显微镜:400-898-1021

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生化分析仪:010-65908700

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