应用:纳米尺度3D光学干涉测量系统 (CSI)
我们在此向您介绍许多有关分析方法及使用我们的纳米尺度3D光学干涉测量系统 (CSI)获得的相应结果数据。
如有任何问题,请通过电子邮件(查询单)和我们联系。
HTD-CSI-E011 | 利用CSI评价铝箔表面的形貌 | 下载 |
HTD-SEM-E093 | 多层膜内异物分析 | 下载 |
HTD-SEM-E126 | 破骨细胞的扫描电镜和白光干涉仪成像观察 | 下载 |
HTD-AFM-E026 | 使用AFM和CSI测量超平聚酯纤维薄表面的纳米3D形貌 | 下载 |
HTD-CSI-006 | 胶囊包装PTP片的厚度不均衡评价 | 下载 |
CSI-CN01 | 多层膜无损测量分析 | 下载 |
产品活动信息
分析仪器·电子显微镜·原子力显微镜:400-898-1021
* 关注日立科学仪器,了解更多仪器产品信息
生化分析仪:010-65908700
* 关注「日立诊断」微信公众号,了解更多仪器产品信息