Skip to main content

日立高新技术在中国
地区/语言地区/语言 联系我们联系我们
  1. 首页
  2. 技术支持
  3. 应用数据
  4. 电子显微镜・原子力显微镜
  5. 外围仪器

应用:外围仪器

我们在此向您介绍许多有关分析方法及使用我们的外围仪器获得的相应结果数据。
如有任何问题,请通过电子邮件(查询单)和我们联系。

HTD-SEM-E004 使用场发射电镜观察半导体参杂层 下载
HTD-SEM-E022 低真空下对不导电样品进行EBSD分析 下载
HTD-SEM-E025 采用晶圆缺陷坐标进行FIB自动加工及SEM观察 下载
HTD-SEM-E032 冷冻截面研磨加工经IL1000离子液体处理后植物样品 下载
HTD-SEM-E052 用平面研磨系统分析铸造厂的型砂 下载
HTD-SEM-E060 使用ArBlade5000对电路板作大面积截面研磨 下载
HTD-SEM-E062 使用ArBlade5000高效研磨自动铅笔芯 下载
HTD-SEM-E070 陶瓷电容器的大面积研磨和观察 下载
HTD-SEM-E071 电路板的大面积观察 下载
HTD-SEM-E083 牙用铸造金-银-钯-铜合金材料用ArBlade5000进行截面加工的应用数据 下载
HTD-SEM-E097 扫描电镜表征镁合金金相组织的制样方法 下载
HTD-SEM-E102 采用IM4000对高分子表面预处理的实例介绍 下载
HTD-SEM-E106 牙用铸造金-银-钯-铜合金试样平面加工的应用数据 下载
HTD-SEM-E112 CFRP内部结构的SEM分析 下载
HTD-SEM-E114 观察燃料电池膜电极截面 下载
HTD-SEM-E120 蓝色发光二极管的横截面观察 下载
HTD-SEM-E121 锂电池正极材料的截面观察 下载
HTD-SEM-E124 观察充电后锂电池负极截面 下载
HTD-SEM-E128 观察铜粉截面并作EBSD分析 下载
HTD-SEM-E136 对电子线路板上多点进行连续截面离子研磨加工 下载
HTD-SEM-E138 对经离子液体处理后的注射器过滤器微孔作测试 下载
HTD-SEM-E142 光电联用观察激光打印纸 下载
HTD-SEM-E147 观察红外截止滤光片截面 下载
HTD-AFM-E003 截面离子研磨对锂电池电极SSRM观察的作用 下载
HTD-AFM-E005 平面离子研磨Nd-Fe-B磁体的AFM观察的影响 下载
HTD-AFM-E036 使用平面离子研磨增强碳钢KFM图像对比度 下载
HTD-AFM-E002 使用真空转移样品台,AFM/SEM 同视野观察经过离子研磨处理的锂电池截面 下载
HTD-AFM-E004 同视野观察Nd-Fe-B晶体和晶粒边界的纳米结构、总成和性质 下载
HTD-AFM-E006 基于平面离子研磨的简单的3D结构获取 下载
HTD-AFM-E032 在大视野范围内,使用SÆMic 联用分析金属腐蚀的AFM、KFM、SEM、EBSD图像 下载
HTD-AFM-E034 锂电池阴极材料在不同的压力条件下的SSRM/SEM-EDX联用分析 下载
HTD-AFM-035 使用SSRM/SEM-EDX联用分析锂电池阳极的离子研磨截面在充放电前后的变化 下载
ArBlade5000 离子研磨仪ArBlade5000在电子元器件中的应用 下载

产品活动信息

分析仪器·电子显微镜·原子力显微镜:400-898-1021

-

* 关注日立科学仪器,了解更多仪器产品信息

生化分析仪:010-65908700

-

* 关注「日立诊断」微信公众号,了解更多仪器产品信息

联系我们