荧光分布成像系统 EEM® View
特点
什么是EEM View
新技术可同时获得荧光 · 反射图像和光谱
- 测定样品的光谱数据(反射光谱、荧光光谱)
-
在不同光源条件(白光和单色光)下拍摄样品
(区域:Φ20 mm、波长范围:380~700 nm) - 采用AI光谱图像处理算法*1,能够分别显示样品荧光图像和反射图像
- 根据图像可获得不同区域的光谱信息*1(荧光光谱、反射光谱)
*1 计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果
EEM View Analysis 界面(样品:LED电路板)
荧光分布成像系统概要
均匀的光源系统
同时获取样品的荧光 · 反射图像和光谱!
- 积分球漫反射使光源均匀化
- 利用积分球收集的光均匀照射样品
- 采用荧光检测器和CMOS相机双检测模式
新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品,利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光图像。
样品安装简单,适用于各种样品测试!
样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!
- 板状样品:通过石英窗安装样品。
- 粉末样品:将粉末填充至样品平整夹具中,置于粉末样品池支架,或使用选配件固体样品支架中的粉末样品池安装样品。
- 校正时,需放置好荧光标准样品。
- 请使用选配的标准白板(100 %)和空白样品(0 %)进行校正。此校正工具可被应用于荧光强度、反射率校正, 以及图像不同区域的亮度分布校正。
应用数据
【应用实例】微结构材料的荧光特性和结构确认
为了提高可视性,我们测量了具有精细结构的荧光反射片。
同时获得光谱数据和样品图像
对样品照射360 nm~700 nm范围内的单色光以及白光。此时,可获得不同光源条件下的图像,同时通过荧光检测器可获得荧光光谱。测定完成后,可以查看样品的三维荧光光谱(激发波长、发射波长、荧光强度)。在专用分析软件中,可对图像进行放大,从而显示不同区域的荧光 · 反射光谱。因此能够确认光学性能分布不均匀的样品的反射和荧光光谱。
计算、显示不同区域的光谱(荧光 · 反射)
显示分离图像(荧光 · 反射)
对拍摄到的图像进行反射光成分图像与荧光成分图像分离
利用AI光谱图像处理算法,将拍摄的图像分离为反射光成分和荧光成分图像。结果,反射光成分图像显示为橙色,荧光成分图像显示为绿色。二者分别与反射光谱与荧光光谱的单色光一致。由此可知,此样品是橙色反射光和绿色荧光的混合,所以在白光下呈黄色。此外,通过反射图像和荧光图像可看出样品不同区域的光学特性(图像图案)差异。放大图像后可以看到,反射板的微细结构存在规律的间隔,其间隔宽度是200 μm。
指标
主要功能
项目 | 内容 |
---|---|
EEM View模式 (测定模式) |
三维荧光光谱的测定 |
单色光图像 | |
白色光图像 | |
预览图像 | |
数据处理 | 显示缩略图 |
显示三维荧光光谱(等高线,渐变图) | |
显示激发/发射光谱 | |
显示放大图像 | |
图像分区(1×1、2×2、3×3、4×4、5×5) | |
计算、显示不同区域光谱(荧光、反射)*1 | |
显示分离图像(荧光、反射)*1 |
*1 计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果
规格
项目 | 内容 |
---|---|
照射波长 |
360 nm ~700 nm |
相机 | 彩色(RGB)CMOS传感器 |
接口 |
USB3.0 |
有效像素数 | 1920 × 1200(H×V) |
可拍摄波长范围 |
380 nm ~700 nm |
* 此配件的主要规格以荧光分光光度计主机为设计依据。
配置示例
名称 | P/N(序列号) |
---|---|
F-7100荧光分光光度计 |
5J1-0042 |
EEM View配件 |
5J0-0570 |
R928F光电倍增管 |
650-1246 |
副标准光源 |
5J0-0136 |
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