Skip to main content

日立高新技术在中国
地区/语言地区/语言 联系我们联系我们
  1. 首页
  2. 产品活动信息
  3. 电子显微镜・原子力显微镜
  4. 聚焦离子束系统 (FIB/FIB-SEM)
  5. CAD导航系统 故障分析导航系统 (NASFA)

CAD导航系统 故障分析导航系统 (NASFA)

CAD导航系统 故障分析导航系统(NASFA)

该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当指定CAD系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就可以获得相应位置的SIM图像。同时，CAD数据和SIM图像也可以重叠显示。因此，很容易检查到下层布线的状态，实质上提高了分析的效率，有利于进一步进行修理工作。

联系我们

关联产品分类

场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM)
透射电子显微镜 (TEM/STEM)

相关链接

应用数据
技术支持

相关信息

分析仪器·电子显微镜·原子力显微镜：400-898-1021

-

* 关注日立科学仪器，了解更多仪器产品信息

生化分析仪：010-65908700

-

* 关注「日立诊断」微信公众号，了解更多仪器产品信息

网络展览会
学术期刊杂志
客户访谈

联系我们

联系我们
返回前页
返回上层

相关内容

日立高新技术在中国

日立高新技术全球顶级

产品活动信息

技术信息

支持信息

新闻及活动

关于我们

人才招聘