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日立ハイテク
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高分子材料(ポリマー・ゴム・プラスチック・フィルム)

電子顕微鏡周辺装置

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電子顕微鏡周辺装置

電子顕微鏡周辺装置の紹介ページです。

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

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電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)

電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)の紹介ページです。

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

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走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)の紹介ページです。

金型管理サービス

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金型管理サービス

金型管理サービスの紹介です。

フィールド機器・分析計

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フィールド機器・分析計

フィールド機器・分析計の紹介ページです。

製造実行系システム

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製造実行系システム

製造実行系システムの紹介ページです。

プロセス電子プリンター CyberPrinter

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プロセス電子プリンター CyberPrinter

EXシリーズの印刷文書であるメッセージ・帳票出力・ハードコピー・ドキュメント出力を取り込み、電子データとして表示・蓄積・印刷することができるプロセス電子プリンターです。

パネル計器

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パネル計器

パネル計器の紹介ページです。

総合計装システム EX-N01A

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総合計装システム EX-N01A

日立総合計装システムEXシリーズは1975年の発売以来、化学、薬品、食品をはじめ、エネルギー、水処理、環境などさまざまな分野の監視制御システムとして多くのお客様にご利用していただいてきました。 今回、これまで日立が積み上げてきた信頼性の上に、適正なオペレーション環境をゼロから見直し、操作性を飛躍的に向上させ、エンジニアリング機能は、ユーザ視点で刷新しました。最高のオペレーションへの答え、それが「EX-N01A」です。

予兆・診断システム「BD-CUBE」

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予兆・診断システム「BD-CUBE」

予兆・診断システム「BD-CUBE」 : 日立ハイテクソリューションズの紹介ページです。

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

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検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)

検査データ管理システムLabDAMS(LIMS)の紹介ページです。

走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330

光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。

ナノ3D光干渉計測システムVS1800

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ナノ3D光干渉計測システムVS1800

ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

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集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)

集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)の紹介ページです。

MEMSデバイス装置

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MEMSデバイス装置

MEMSデバイス装置の紹介ページです。

薄膜装置

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薄膜装置

薄膜装置の紹介ページです。

超音波映像装置 FineSAT III

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超音波映像装置 FineSAT III

超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。

LED熱抵抗測定装置

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LED熱抵抗測定装置

⊿VF法によるLED熱抵抗測定 大電流対応により、LED素子及びLEDモジュール測定へ対応 電源の「高速応答性」「安定性」「大電流対応」 ⇒ 定常&過渡熱抵抗測定の実現 温度係数測定機能(恒温槽との取り合い可能) 多素子切替機能(MAX100ch) (左図)LED熱抵抗測定装置(LED装着治具は別置き)

二次電池組立システム

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二次電池組立システム

2次電池組立に必要なシステムソリューションを ご提案、提供致します。

Plasma Cleaner

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Plasma Cleaner

IC、LED、PCB、LCD等の電子部品製造工程でのクリーニング、表面改質等で幅広くお使いいただける装置です。 バッチ装置と処理量に特化したインライン装置をご提案します。

プラズマ処理装置 デスミア/デスカム/表面改質

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プラズマ処理装置 デスミア/デスカム/表面改質

独自の電極構造を用いたプラズマ処理装置です。リジットプリント基板からフレキシブルプリント基板まで豊富なラインナップから最適な装置をご提案します。

偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。

蛍光X線分析装置(XRF)

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蛍光X線分析装置(XRF)

蛍光X線分析装置(XRF)の紹介ページです。

BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXmicro

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BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXmicro

サイズを小さくして、性能を高める EMXmicroは、タワーPCほどのわずかな設置面積で、磁場と信号分解能でEPR性能を高めた新たな小型連続波分光計(CW-EPR)を提供します。

BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXplus

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BRUKER 電子スピン共鳴装置(ESR) EMXplus

新たな EPR 哲学の具体化 EMXplusTM は、Brukerの革新的EPR分析哲学を具体化する成功を収めたBruker EMX分光計製品群の次世代機です。

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)

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電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)

電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)の紹介ページです。

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

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液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)

液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)の紹介ページです。

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

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ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)

ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)の紹介ページです。

質量分析装置(LC-MS、GC-MS)

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質量分析装置(LC-MS、GC-MS)

質量分析装置(LC-MS、GC-MS)の紹介ページです。

固体発光分光分析装置(OES)

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固体発光分光分析装置(OES)

固体発光分光分析装置(OES)の紹介ページです。

熱分析・粘弾性装置

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熱分析・粘弾性装置

熱分析・粘弾性装置の紹介ページです。

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

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分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)

分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)の紹介ページです。

X線回折装置(XRD)

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X線回折装置(XRD)

X線回折装置(XRD)の紹介ページです。

ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ

実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。

ガスバリア試験装置

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ガスバリア試験装置

ガスバリア試験装置の紹介ページです。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

設計及び開発業務の効率化や品質向上の為の課題を早期解決しませんか?
評価リソースやコストに関する各種ご提案をご用意しております。

日立ハイテクの材料開発ソリューション

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日立ハイテクの材料開発ソリューション

MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。