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パワーモジュール(IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等)の動特性を測定します。
1台でスイッチングタイム、VCE(SUS)、負荷短絡測定を実現します
低インダクタンス切替器を内蔵しております。
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特徴
検査(測定)対象:IGBT、IPM、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等
検査装置特徴:超低Ls(ストレーインダクタンス)を実現
IGBT L負荷スイッチング試験回路
スイッチング試験のターンオン波形実測結果に基づきLs算出
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