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パワーモジュール静特性測定装置

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パワーモジュール、IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor）、Diodeなどの各種静特性を常温～高温で測定し、良否判定を行います。

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  1. 検査（測定）対象：IGBT、IPM、P-MOS TET、SiC、GaN、Diode等
  2. 検査装置特徴：超低Ls（ストレーインダクタンス）を実現
200Aの定電流波形（一例）
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IGBT Vce(sat)試験回路
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