ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 製品サービス・ソリューション
  3. 製造関連装置・ソリューション
  4. パワーデバイス検査装置
  5. パワーモジュール静特性測定装置

パワーモジュール静特性測定装置

-

パワーモジュール、IGBT（Insulated Gate Bipolar Transistor）、Diodeなどの各種静特性を常温～高温で測定し、良否判定を行います。

お問い合わせ

特徴

  1. 検査（測定）対象：IGBT、IPM、P-MOS TET、SiC、GaN、Diode等
  2. 検査装置特徴：超低Ls（ストレーインダクタンス）を実現
200Aの定電流波形（一例）
200Aの定電流波形（一例）
IGBT Vce(sat)試験回路
IGBT Vce(sat)試験回路

関連製品

パワーモジュール動特性測定装置

パワーモジュール動特性測定装置

-

パワーモジュール過渡熱抵抗測定装置

-

パワーサイクル試験装置

お問い合わせ

お問い合わせ
一つ上のページに戻る
ページ先頭へ

関連コンテンツ

日立ハイテク

日立ハイテクトップ

製品ソリューション

技術情報

サポート情報

ニュース・イベント

企業情報

採用情報