このウェブサイトでは、JavaScriptの機能を有効に設定していただくことで、最適なコンテンツをご覧いただけます。
ページの本文へ
地域・言語選択
お問い合わせ
検索
検索
日立ハイテク
Menu
関連コンテンツ
FIBデータギャラリー「はんだボールの断面加工観察」
FIBデータギャラリー「セロハンテープの断面加工観察」
FIBデータギャラリー「ねじの各部(ねじ山、ねじ溝)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「紙(上質紙)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「紙(上質紙)の印刷後の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「植物の根(ヘビノネゴザ)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「髪の毛(枝毛)の断面観察」
FIBデータギャラリー「耐熱鋼P122の観察例」
FIBデータギャラリー「ウィスカの断面加工観察」
FIBデータギャラリー「携帯電話部品(フィルムケーブル)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「携帯電話部品(CCD)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「CCDの連続断面像」
FIBデータギャラリー「貫通穴の加工」
FIBデータギャラリー「セラミックコンデンサの加工観察」
Home
技術情報
電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)
FIBデータギャラリー
FIBデータギャラリー
[No.1] はんだボールの断面加工観察
[No.2] セロハンテープの断面加工観察
[No.3] ねじの各部(ねじ山、ねじ溝)の断面加工観察
[No.4] 紙(上質紙)の断面加工観察
[No.5] 紙(上質紙)の印刷後の断面加工観察
[No.6] 植物の根(ヘビノネゴザ)の断面加工観察
[No.7] 髪の毛(枝毛)の断面加工観察
[No.8] 耐熱鋼P122の観察例
[No.9]ウィスカの断面加工観察
[No.10] 携帯電話部品(フィルムケーブル)の断面加工観察
[No.11] 携帯電話部品(CCD)の断面加工観察
[No.12] CCDの連続断面像
[No.13] 貫通穴の加工
[No.14] セラミックコンデンサの加工観察
関連リンク
アプリケーションデータ
お役立ち情報
展示会・セミナー
関連情報
会員制サービス
お問い合わせ
お問い合わせ
一つ上のページに戻る
ページ先頭へ
関連コンテンツ
FIBデータギャラリー「はんだボールの断面加工観察」
FIBデータギャラリー「セロハンテープの断面加工観察」
FIBデータギャラリー「ねじの各部(ねじ山、ねじ溝)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「紙(上質紙)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「紙(上質紙)の印刷後の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「植物の根(ヘビノネゴザ)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「髪の毛(枝毛)の断面観察」
FIBデータギャラリー「耐熱鋼P122の観察例」
FIBデータギャラリー「ウィスカの断面加工観察」
FIBデータギャラリー「携帯電話部品(フィルムケーブル)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「携帯電話部品(CCD)の断面加工観察」
FIBデータギャラリー「CCDの連続断面像」
FIBデータギャラリー「貫通穴の加工」
FIBデータギャラリー「セラミックコンデンサの加工観察」
日立ハイテク
日立ハイテクトップ
製品ソリューション
製品サービス・ソリューションから探す
業種・業界から探す
社会課題から探す
技術情報
サポート情報
ニュース・イベント
企業情報
国内グループ会社
海外グループ会社
サステナビリティ
採用情報
日立グループTOP
サイトの利用条件
個人情報保護に関して
© Hitachi High-Tech Corporation.
2001
. All rights reserved.