ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)
  5. FIBデータギャラリー
  6. FIBデータギャラリー「貫通穴の加工」

FIBデータギャラリー「貫通穴の加工」

-

*: 図中の倍率は操作画面での表示倍率です。

試料名 モリブデン
観察内容 放電加工では被加工物が堆積しているのに対し、FIBでの加工では堆積が見られませんでした。さらに追加工を行うことで内壁をきれいに仕上げることができます。

関連リンク

関連情報

お問い合わせ