ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
  5. FIBデータギャラリー
  6. FIBデータギャラリー「CCDの連続断面像」

FIBデータギャラリー「CCDの連続断面像」

-

*： 図中の倍率は操作画面での表示倍率です。

試料名 市販の携帯電話に内蔵されていた撮像素子
観察内容 200nmステップでCCDの連続断面像を取得しました。奥行き方向の情報を得たい場合や、精密な断面位置決めが必要な場合に有効です。

14ページ中12ページ

関連リンク

アプリケーションデータ
お役立ち情報
展示会・セミナー

関連情報

会員制サービス

お問い合わせ

お問い合わせ
一つ上のページに戻る
ページ先頭へ

関連コンテンツ

日立ハイテク

日立ハイテクトップ

製品ソリューション

技術情報

サポート情報

ニュース・イベント

企業情報

サステナビリティ

採用情報