ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 製品サービス・ソリューション
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)
  5. AMICSソフトウェア(MLA)
  6. AMICS 鉱物単体分離解析システム(MLA)

AMICS 鉱物単体分離解析システム(MLA)

AMICS 鉱物単体分離解析システム(MLA)

AMICS(The Advanced Mineral Identification and Characterization System)は、SEMベースの自動鉱物単体分離システムです。鉱石中に含有される鉱物成分をサブグレイン単位まで精密に分離、定量することが可能となります。このシステムは、Bruker製EDX QUANTAX と日立製走査形電子顕微鏡(SEM)及びそれらを制御するのAMICSソフトウェアで構成されます。

AMICSソフトウェアは1990年代にMineral Libration Analyzer(MLA)を発明したYing Gu博士による高度な専門的知識と経験を持った開発チームによって開発されたものです。

* SEM式自動鉱物単体分離システム
(MLA; Mineral Liberation Analyzer)

特長

  • 実績のある日立製SEMの高感度BSE(反射電子)による高精度なイメージング
  • 高度な画像解析処理による進化したセグメンテーション(Particle/Grain/Phase)、粒界検出、単体分離能力
  • 優れたセグメンテーション、元素分析フローによる同定技術は、高速な自動分析を実現
  • 迅速に鉱物を同定するための包括的な専用データベースを搭載。(2000種の鉱物データ)
  • 多試料ホルダによる自動分析が可能。

Hitachi BSE SEM image

Hitachi BSE SEM image

AMICS Segmented image

AMICS Segmented image

X-ray Analysis and Mineral Classification

Mineral Composition
Mineral Composition
Particle Grid
Particle Grid
Data Processing & Export
Data Processing & Export

製品詳細情報 - AMICS対応 日立ハイテクの走査電子顕微鏡(SEM)

関連情報

カタログ

お問い合わせ