Nano/Pico Current AFM
原理: 試料にバイアス電圧を印加し、導電性探針を通して流れる電流をI/Vアンプによって計測し、画像化します。
![-](/jp/ja/media/6_nano-current_01_gif_tcm26-80273.gif)
測定した電流マッピング画像の任意の場所でIVカーブ(電流-電圧特性)を測定することが可能です。
![-](/jp/ja/media/6_nano-current_02_gif_tcm26-80274.gif)
■標準タイプ:108V/Aアンプ
計測範囲: 0.1nA~100nA
電流分解能: 5pA RMS
■低電流タイプ:1011V/Aアンプ
計測範囲: 0.1pA~100pA
電流分解能: 100fA RMS 以下
【Nano/Pico Current AFMの用途】
- 電子デバイスなどの電気特性評価
- 電子材料、強誘電体膜などのリーク電流評価(絶縁性評価)
Nano/Pico Current AFMの適用例
試料:DVD-RAM
![-](/jp/ja/media/6_nano-current_03_jpg_tcm26-80275.jpg)
DVD-RAMの保護層を剥がし、バイアス電圧1Vで測定した電流像。
記録マークのアモルファス相には電流が流れていません。
<参考資料>
試料:強誘電体薄膜
![-](/jp/ja/media/6_nano-current_04_jpg_tcm26-80276.jpg)
強誘電体薄膜のリーク箇所の同定 どの場所でリークしているか一目でわかります。
関連情報
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