膜厚測定装置
蛍光X線を使用しためっき膜厚計で、試料を破壊することなく、非接触・短時間での膜厚測定が可能です。高い信頼と長年の実績を有する日立ハイテクサイエンスの蛍光X線膜厚計FTシリーズは、膜厚測定の次なるステージをご提案します。
- ニュース
- イベント
製品情報
蛍光X線膜厚計の製品ラインアップの紹介です。豊富なオプションによりお客様の測定ニーズに合わせた装置構成が可能です。
蛍光X線分析（XRF)、蛍光X線膜厚測定のアプリケーション（測定事例）を紹介しています。
蛍光X線膜厚計に関連する最新情報をご提供しています。
蛍光X線分析の原理解説と応用例のご紹介です。
スペシャルコンテンツ
蛍光X線分析に関する最新トピックをまとめました。
-
環境規制と日立蛍光X線分析装置6つの特長
RoHS、中国版RoHS等の環境規制への対応をサポートする、専用蛍光X線分析装置をご紹介します。
蛍光X線分析の技術をコラム形式でご紹介しています。
蛍光X線分析/膜厚測定についての参考文献・発表をまとめています。
ISO/IEC17025取得の当社試験所のご紹介です。
当社主催の蛍光X線分析/膜厚測定ユーザースクールのご案内です。
製品ユーザー向け情報
当社の蛍光X線膜厚計をお使いのお客様向けの情報です。
装置蛍光X線分膜厚計に関する保守・サービス情報をまとめています。
当社装置をお使いのユーザー様向けに、アプリケーションデータをはじめ各種情報をご提供しています。
生産を終了した製品一覧と、消耗品・修理部品の保有期限の一覧です。