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![偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ](/jp/ja/media/ana-za3000_main_tcm26-3297.png)
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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ
日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。
![蛍光X線分析装置(XRF)](/jp/ja/media/main_ea1400_png_tcm26-79009.png)
![蛍光X線膜厚計 FT110A](/jp/ja/media/ana-ft110_main_jpg_tcm26-24874.jpg)
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蛍光X線膜厚計 FT110A
自動位置決め機能により、試料台の上にサンプルを置くだけで、試料観察光学系の焦点を数秒以内に自動的に合わせることができます。これにより、従来は手動で行っていた焦点合わせの操作が無くなり、測定にかかわるスループットが格段に向上しました。
![蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ](/jp/ja/media/ana-ft160_main_jpg_tcm26-7495.jpg)
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蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ
微小・微細な電子部品などに施されたナノオーダーレベルのめっき膜厚測定に対し、ポリキャピラリ光学系と高性能半導体検出器を搭載し、高精度・高スループットを実現した蛍光X線膜厚計最新モデルです。
![電気化学分析装置(滴定、水質、水分測定)](/jp/ja/media/main_jpg_tcm26-78945.jpg)
![液体クロマトグラフ(HPLC、アミノ酸分析計)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![ICP発光分光分析装置(ICP-OES/ICP-MS)](/jp/ja/media/main_jpg_tcm26-78957.jpg)
![グロー放電質量分析装置(GD-MS) astrum](/jp/ja/media/ana-astrum_main_png_tcm26-28153.png)
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グロー放電質量分析装置(GD-MS) astrum
リチウムからウランまで、そしてマトリックスからppbまでのほぼすべての元素を定量できます。極低温冷却タンタル源/セルと迅速なサンプル切り替えシステムを特長としています。装置の耐久性のある構造と実証されたイオンソースにより、日々、最高のパフォーマンスを発揮します。
![加熱脱離質量分析計(フタル酸エステル類スクリーニング検査装置)HM1000A](/jp/ja/media/ana-hm1000a_main_jpg_tcm26-7496.jpg)
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加熱脱離質量分析計(フタル酸エステル類スクリーニング検査装置)HM1000A
RoHS指令の改正に伴い、2019年7月から、絶縁被覆材や電気絶縁テープ、包装用フィルムなどに使用されている4種類のフタル酸エステルが規制対象物質に加わります。 本装置は、フタル酸エステル類の迅速なスクリーニング検査を生産現場で簡単に行うための専用機です。操作性の良さに加え、約8時間で50個の自動測定という高スループットな検査を実現しています。
![固体発光分光分析装置(OES)](/jp/ja/media/main_png_tcm26-78984.png)
![熱分析・粘弾性装置](/jp/ja/media/main_16_png_tcm26-78901.png)
![分光分析装置(UV-Vis/NIR、FL)](/jp/ja/media/main_jpg_tcm26-78999.jpg)
![X線回折装置(XRD)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ](/jp/ja/media/ana-vulcan_main_jpg_tcm26-30436.jpg)
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ハンドヘルドLIBS分析装置 VULCANシリーズ
ハンドヘルドタイプのLIBS(レーザー誘起ブレークダウン法)装置です。圧倒的な分析速度に加え、アルミニウムなどの軽元素に強いため、日々におけるサンプルの大量測定に最適な分析手法です。
![ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ](/jp/ja/media/ana-x_met8000_main_jpg_tcm26-30432.jpg)
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ハンドヘルド蛍光X線分析装置X-MET8000シリーズ
実績のある蛍光X線(XRF)分析装置のハンドヘルドタイプモデルで、さまざまな合金の測定が可能です。 PMI(Positive Material Identification)や出荷、受け入れ時の確認試験に最適で、重量も軽量と日常使いに優れています。また前処理が不要なので、汚れているサンプルの測定にも適しています。
![ガスバリア試験装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![MEMSデバイス装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![薄膜装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![HEV評価試験システム](/jp/ja/media/ind-ev-hev-1_main_jpg_tcm26-31778.jpg)
![超音波映像装置 FineSAT III](/jp/ja/media/ind-finesat3_main_jpg_tcm26-27091.jpg)
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超音波映像装置 FineSAT III
超音波映像装置FineSATは、半導体パッケージ、電子部品、セラミック・金属・樹脂部品などの内部ボイド、クラック、剥離などの欠陥を、超音波を使って非破壊で映像化する装置です。X線装置、赤外線検査装置、光学顕微鏡では検出できないナノメーターレベルの隙間も検出することができます。
![パワーデバイス検査装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![二次電池組立システム](/jp/ja/media/ind-niji_main_jpg_tcm26-26681.jpg)
![電子スキャン方式高速超音波映像装置 ES5100](/jp/ja/media/ind-scan_main_tcm26-150716.jpg)
![多槽バッチ式ウェットステーション](/jp/ja/media/ind_man_wet_001_main_jpg_tcm26-25721.jpg)
![スピンプロセッサー(MSP-1)](/jp/ja/media/ind_man_wet_002_main_jpg_tcm26-25749.jpg)
![マルチスピンプロセッサー(MSP-2)](/jp/ja/media/ind_man_wet_003_main_jpg_tcm26-25772.jpg)
![ロール成形機](/jp/ja/media/ind-roll_1_main_jpg_tcm26-26597.jpg)
![走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![走査型白色干渉顕微鏡 VS1330](/jp/ja/media/vs1000_main_tcm26-56719.jpg)
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走査型白色干渉顕微鏡 VS1330
光干渉方式の特徴であるスピード・精度・分解能をそのままに、ISO国際標準に準拠した汎用計測ユニットとしてお使いいただける単眼ベースモデルです。 顕微鏡タイプのため微分干渉ユニットが装着でき微分干渉像も手軽に観察可能です。 卓上・小型タイプのコンパクト設計で場所をとらず、表面粗さ管理や膜厚管理といった検査工程に適したモデルです。
![ナノ3D光干渉計測システムVS1800](/jp/ja/media/vs1800_main_tcm26-58360.png)
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ナノ3D光干渉計測システムVS1800
ナノ3D光干渉計測システムVS1800は、光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。また、多層膜の層構造および層内部の異物計測を非破壊で行うことも可能です。
![電子顕微鏡(SEM/TEM/STEM)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![集束イオンビーム(FIB/FIB-SEM)](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![電子顕微鏡周辺装置](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![設計・製造](/jp/ja/media/no_image_tcm26-163222.png)
![AR(拡張現実)ツール「PTC Vuforia」](/jp/ja/media/vuforia_main_png_tcm26-82442.png)
![防爆タブレットPC](/jp/ja/media/hsl_getac_f110g5_exx_main_png_tcm26-28932.png)
![プロセスガスモニタ CP-1000](/jp/ja/media/cp1000_main_jpg_tcm26-31119.jpg)
![ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P](/jp/ja/media/cp2000_cp2000p_main_jpg_tcm26-31921.jpg)
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ダイオキシン前駆体モニタ CP-2000/PCBモニタ CP-2000P
ごみ焼却場での排ガスに含まれるクロロフェノール、クロロベンゼンの濃度を、またPCB分解処理設備でのPCB濃度を連続的に測定・監視します。
![金型管理サービス](/jp/ja/media/hnx054_main_jpg_tcm26-29491.jpg)
![計測・試験・分析 受託評価サービス](/jp/ja/media/index_main_png_tcm26-35157.png)
![日立ハイテクの材料開発ソリューション](/jp/ja/media/solution_thumb_tcm26-187595.png)
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日立ハイテクの材料開発ソリューション
MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。
![X線CTシステム:非破壊検査|世界最大級の高エネルギーX線CT](/jp/ja/media/branding_tcm26-230558.png)
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X線CTシステム:非破壊検査|世界最大級の高エネルギーX線CT
世界最大級9MVの高エネルギーX線CTシステム。大型製品や高密度材、複合材に対応。欠陥検出、形状計測から、密度解析、CAE連携によるリバースエンジニアリングまでモノづくりを支援。