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病理診断

偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

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偏光ゼーマン原子吸光光度計 ZA3000シリーズ

日立ゼーマン原子吸光の進化は止まらない! ZA3000はユーザー様のニーズに応え、偏光ゼーマン原子吸光光度計の高精度・高感度分析という基本性能を踏襲し、かつ他の原子吸光光度計では実現できない技術を採用し、機能性・信頼性を向上させた新しい元素分析装置です。 左写真:ZA3000(フレーム/グラファイトファーネス機)

コロナ吸光マイクロプレートリーダ MTP-320Lab

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コロナ吸光マイクロプレートリーダ MTP-320Lab

シンプルに使いやすい機能を追求したベーシックモデル。 食品アレルゲン検出、ダイオキシン、残留農薬、残留抗菌剤など、各種検査などのルーティンワークにもシンプルで使いやすい機能を追求したベーシックモデル、安心の3年保証付き(3年保証の対象は、本体のみです。PC、プリンタは含まれません。)

コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1000Lab

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コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1000Lab

使い方は自由自在! グレーティングを搭載した拡張性の高い次世代吸光リーダです。紫外から近赤外領域で波長を自由に選択可能です。ライフサイエンス、食品、化粧品、製薬、新素材など、幅広い研究分野でご使用いただけます。

コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1200Lab

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コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1200Lab

確かな満足をこの1台で マイクロプレートリーダの新スタンダード機、登場! 確かな満足をお届けします。

コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1300Lab

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コロナ吸光グレーティングマイクロプレートリーダ SH-1300Lab

フィルタレス化を推し進め、すべてのユーザーへグレーティングマイクロプレートリーダを。

コロナグレーティングマイクロプレートリーダ SH-9500Lab

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コロナグレーティングマイクロプレートリーダ SH-9500Lab

多様な研究ニーズに応えるために。 進化したグレーティング式マルチマイクロプレートリーダが新登場。 ライフサイエンス、食品、化粧品、製薬など幅広い分野でご使用いただけます。

クリーン・ドライエアシステム(グローブボックス/エンクロージャー/ドライルームシステム)

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クリーン・ドライエアシステム(グローブボックス/エンクロージャー/ドライルームシステム)

ラボスケールから本生産まで、あらゆるステップで効果を発揮 除湿機メーカーとして心臓部のローター生産から機械設計・製造まで一貫して行ってきたノウハウを生かしドライ環境が必要なあらゆる段階におけるお客様のニーズに、最適なシステムでお応えします。

金型管理サービス

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金型管理サービス

金型管理サービスの紹介ページです。

Leica 高真空コーティング装置 EM ACE600

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Leica 高真空コーティング装置 EM ACE600

EM ACE600は、FE-SEMとTEMのアプリケーション向けに、各種金属やカーボンを非常に薄く均質で粒状性の良い成膜をすることが出来ます。 可能な成膜方法: スパッタリング、カーボンス蒸着、E-ビーム蒸着、グロー放電による親水化処理

Leica 凍結置換システム EM AFS2

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Leica 凍結置換システム EM AFS2

凍結試料は、極低温下で化学固定や包埋処理されることで、より忠実な超微形態や弱い抗原を残すことができます。試料は樹脂に包埋されるので、常温での切削が可能です。 また操作が簡単でルーチン作業に適しており、少量の置換液で多数の試料処理が可能な低ランニングコストを実現しました。

Leica 凍結切片作製用ウルトラミクロトーム EM FC7

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Leica 凍結切片作製用ウルトラミクロトーム EM FC7

凍結試料の切削において重要な事は、温度制御の正確さです。Leica社のFCシリーズは、試料部、ナイフ、チャンバー雰囲気を高精度に制御し、さまざまな工業材料(ゴム・プラスチック・多層フィルム等の高分子材料)や生物試料の超薄切片作製断面出しを行うことができます。 FC7では、前モデルのUC6で好評だった液晶タッチパネルを継続採用し、ミクロトーム本体とインテグレートされたコントローラーにて操作します。さらに静電除去と帯電が可能なCRION、試料作製の大きな助けとなるマニピュレータ、霜対策に有効なクライオスフィアなど新たなアクセサリーも登場しました。

Leica ウルトラミクロトーム EM UC7シリーズ

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Leica ウルトラミクロトーム EM UC7シリーズ

光学顕微鏡で用いる準超薄切片から、TEMで要求される高品質な超薄切片、さらにSEM、あるいはAFM観察で必要な高い面精度の断面作製にも活用できます。 超精密機構でありながら、人間工学に基づいた設計、およびタッチパネル式コントロールユニットの直感的レイアウトを採用したLeica EM UC7は、さまざまな場面で最高品質の試料作製に適しています。 ※左写真はFC7が付属したものです。

TEM用デジタルカメラ

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TEM用デジタルカメラ

フィルム使用に伴う現像作業および廃液の削減、デジタル化による業務の効率向上を図ることができます。 高速、高感度、高精細を発揮するsCMOS 撮像素子を搭載したAMT 社製のデジタルカメラです。500 万画素(NanoSprint500)および1200 万画素(NanoSprint1200)のそれぞれの仕様において、毎秒30フレーム以上のレートで出力可能です。電子線回析画像も広範囲に取り込めます。

Hitachi map 3D

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Hitachi map 3D

3次元像で高さ、粗さを測定可能。 4分割反射電子検出器を使用することで試料の傾斜等を行うことなく、3次元像を構築、高さ、粗さを測定できます。 レポート画面上で直接編集。 任意のレイアウトに変更可能です。 2点間の高さ寸法計測、表面積や体積計測、 簡易表面粗さ(面粗さ、線粗さ)などの測定ができます。 計測したワークフローはレポート上に表示され確認・出力できる為トレーサビリティが確立できます。

イオンポンプ バックアップ電源

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イオンポンプ バックアップ電源

停電および電源休止時にFE電子銃の真空排気を自動で継続します。 真空排気停止後に必要な電子銃のコンディショニングを不要とし、常に安定した動作状態を保つことができます*。 停電時の電源切換えは自動で行います。コネクタ等の接続変更などの特別な操作は不要です。

TS/CSホルダ

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TS/CSホルダ

「ウェーハサンプルの固定が容易なホルダが欲しい」、「ウェーハサンプルの接着媒体からのアウトガスによるコンタミネーションの発生を抑えたい」などのご要望にお応えするため、扱いやすく機械的にウェーハサンプルを固定できるホルダをご用意いたしました。 これにより、ウェーハサンプルをホルダにセットする際の作業効率向上が図れます。

給水ユニット

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給水ユニット

本装置には、タイマーリレーが付いており、自動的に冷却水を止めます。 減圧定流量弁が付いており、常に一定の水圧と流量を保持します。 漏水検知器がついており、いつでも見張り番をしています。万が一漏水が発生しても、自動的に冷却水を止めます。 日立のあらゆる電子顕微鏡にも取り付けできます。

日立電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZONESEMⅡ

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日立電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZONESEMⅡ

試料の前処理や保管を行う際、試料表面に付着したハイドロカーボンを観察前にUV照射により除去し、観察時のコンタミネーション形成を低減するクリーナーです。少ないダメージで試料表面の汚損を除去することが可能なため、ダメージに敏感な試料へも適応可能です。 波長185 nmと254 nmのUV照射光によりチャンバー内残存酸素分子からオゾンおよび活性酸素(原子状酸素)を生成します。試料表面のハイドロカーボン分子と活性酸素が反応し、CO2、H2Oなどの揮発性分子となり、試料表面から剥離します。発生したオゾンと剥離した揮発性分子はオゾン除外装置を含むドライ真空排気系により、安全にチャンバー外に排出されます。

日立電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZONETEMⅡ

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日立電子顕微鏡用サンプルクリーナー ZONETEMⅡ

試料の前処理や保管を行う際、試料表面に付着したハイドロカーボンを観察前にUV照射により除去し、観察時のコンタミネーション形成を低減する日立TEM/STEMおよびインレンズSEM用のクリーナーです。 少ないダメージで試料表面の汚損を除去することが可能なため、ダメージに敏感な試料へも適応可能です。 波長185nmと254nmのUV照射光によりチャンバー内残存酸素分子からオゾンおよび活性酸素(原子状酸素)を生成します。試料表面のハイドロカーボン分子と活性酸素が反応し、CO2、H2Oなどの揮発性分子となり、試料表面から剥離します。発生したオゾンと剥離した揮発性分子はオゾン除外装置を含むドライ真空排気系により、安全にチャンバー外に排出されます。

小型キャピラリー電気泳動シーケンサー DS3000

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小型キャピラリー電気泳動シーケンサー DS3000

手軽に使えて小型で便利なDNAシーケンサー DS3000は、「直観的で使いやすいタッチパネルスクリーン」「消耗品は装置内部に設置しやすいカートリッジ方式」「設置スペースを節約するコンパクトなデザイン」など、さまざまな特長があります。手軽に、短時間でシーケンシング解析とフラグメント解析を行うことができます。

計測・試験・分析 受託評価サービス

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計測・試験・分析 受託評価サービス

設計及び開発業務の効率化や品質向上の為の課題を早期解決しませんか?
評価リソースやコストに関する各種ご提案をご用意しております。

日立ハイテクの材料開発ソリューション

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日立ハイテクの材料開発ソリューション

MI(マテリアルズ・インフォマティクス)に関する各種サービス〔材料データ分析環境提供サービス、トライアル材料データ分析環境提供サービス、データ分析支援サービス、データ分析教育サービス、実験装置連携サービス(開発中)、計測・試験・分析 受託評価サービス〕をご提供します。