プローブステーション AFM5000II／RealTune®II
特長
1. RealTune®II 新測定パラメータ自動調整機能
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独自の測定パラメータ自動調整機能がパワーアップ！
カンチレバーの振動振幅や動作周波数など、主要なパラメータを予測し調整する新アルゴリズムを開発。 試料表面の形状、走査エリア、使用するカンチレバーやスキャナなどを総合的に評価し、 最適な測定条件を高効率・高精度に調整します。 - 新たに振幅調整機能を付加した測定パラメータ自動調整機能 （RealTune®II）により、ワンクリック測定が可能となりました。熟練オペレータを必要とした測定が、初心者でも簡単に行えます。
- パラメータの調整が難しい試料にも対応。
従来方式
繊細なパラメータ調整を必要とする、難しい試料。軟らかな繊維が変形し横筋が発生。
新アルゴリズム
最適なパラメータに自動調整し、複雑な繊維構造も変形させずに測定。
【試料提供：日東電工株式会社様】
従来方式
表面が壊れやすい試料のため、横筋が多く、ステップの輪郭も不明瞭。
新アルゴリズム
最適なパラメータに自動調整し、分子レベルのステップ構造を安定して測定。
【試料提供：神戸大学北村研究室】
2. 新GUI（Graphical Use Interface）
イージーメニュー
- 見やすく分かりやすいアイコンと、厳選された情報表示で、初心者から上級者まで、もう操作に迷いません！
- 測定と解析の作業領域をタブで切り替え、スッキリした画面に。広く有効に利用できます。
3. 3Dオーバーレイ機能
形状像と物性像を重ね合わせて表示し、さらに3D像として描画することができるので、物性の分布を視覚的に捉えることが可能です。
4. 粗さ解析、断面プロファイル機能
粗さ解析や断面プロファイル解析など、多彩な解析機能を備えています。
5. コンパクト設計
軽量化され、コンパクトになりました。設置場所を選びません。
220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg
仕様
| 接続機種 | AFM5100N、AFM5200S、AFM5300E |
|---|---|
| X, Y, Z走査電圧 | XY：±200V／18bit Z：±200V／26bit |
| 同時測定（データポイント） | 4画面（最大2048×2048） 2画面（最大4096×4096） |
| 長方形スキャン | 2：1、4：1、8：1、16：1、32：1、64：1、128：1、256：1、512：1、1024：1 |
| 測定パラメータ自動調整機能 | RealTuneII カンチレバー振幅、接触力、走査速度、フィードバックゲインの自動調整 |
| ソフトウェア | マルチレイヤー表示機能（測定／解析）、測定ナビゲーション機能、3Dオーバーレイ機能、スキャナ可動範囲／測定履歴表示機能、データ解析バッチ処理機能、探針評価機能 |
| 本体サイズ | 220mm(W) × 500mm(D) × 385mm(H)、約15kg |
| 電源 | AC100V～240V±10％、単相 |
アプリケーション
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）のアプリケーション（測定事例）を紹介しています。
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関連情報
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