参考文献・発表リスト：走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）

2014年

• 表面解析講習会～走査型プローブ顕微鏡による考察～
  表面解析講習会～走査型プローブ顕微鏡による考察～，2014年1月15日，香川県産業技術センター, 香川 (2014).

2013年

• 環境制御SPMおよび白色干渉計搭載大型ステージSPMによる最新アプリケーション
  山岡武博， 環境制御SPMおよび白色干渉計搭載大型ステージSPMによる最新アプリケーション， 岐阜大学大型精密機器高度利用公開セミナー，12月11日, 岐阜大学, 岐阜 (2013).
• 走査型プローブﾞ顕微鏡 観る・撮る・測る 合同セミナー
  岩佐真行，走査型プローブﾞ顕微鏡 観る・撮る・測る 合同セミナー， 10月31日，大阪 (2013).
• SEM-TES application to chemical state analysis on cation of electrode materials for electrochemical capacitors based on the sensitivity correction of X-ray intensity data
  M.Ohgaki, S.Matsumura, M.Miyayama, et.al.　SEM-TES application to chemical state analysis on cation of electrode materials for electrochemical capacitors based on the sensitivity correction of X-ray intensity data, ISIEM 2013(The International Symposium on Inorganic and Environmental Materials 2013), University of Rennes 1, Rennes, France (2013).
• 走査型プローブ顕微鏡の産業向け計測への展開
  伊与木誠人，野坂尚克，渡辺和利，走査型プローブ顕微鏡の産業向け計測への展開，日立評論，Vol.95 No.9 (2013).
• ナノ表面物性顕微鏡としてのＳＰＭ技術の基礎と応用
  山岡武博，ナノ表面物性顕微鏡としてのＳＰＭ技術の基礎と応用，JASIS2013新技術説明会， 9月6日，幕張 (2013).
• 走査型プローブ顕微鏡入門
  山岡武博，"走査型プローブ顕微鏡入門", 第３章 3-3, 3-4, 第４章 4-8, 第６章 6-3, （秋永広幸 監修, 秦信宏 編著）, オーム社 （2013).
• 走査ﾌﾟﾛｰﾌﾞ顕微鏡熱分析
  辻川葉奈，柴田健一, 走査ﾌﾟﾛｰﾌﾞ顕微鏡熱分析，JAIMAサマーサイエンススクール，東京 (2013).
• SPM力学物性測定とミクロ熱物性ＳＰＭによる電磁気物性イメージングサンプリング・インテリジェント・スキャン（ＳＩＳ）の各種物性モードへの展開
  野坂尚克，岩佐真行，山岡武博，SPM力学物性測定とミクロ熱物性ＳＰＭによる電磁気物性イメージングサンプリング・インテリジェント・スキャン（ＳＩＳ）の各種物性モードへの展開，日立ハイテクサイエンス SPMセミナー， 7月31日(東京), 8月1日(名古屋), 8月2日（大阪）, (2013).
• 九州大学中央分析センター第75回分析基礎セミナー
  岩佐真行, SPMの基礎と実際, 九州大学中央分析センター第75回分析基礎セミナー, 6月27日, 九州大, 福岡 (2013).
• SPMの基礎と応用
  岩佐真行, SPMの基礎と応用, 関西大学, 6月26日, 大阪 (2013).
• 走査型プローブ顕微鏡によるミクロ領域の熱物性評価
  岩佐真行, 走査型プローブ顕微鏡によるミクロ領域の熱物性評価, 名古屋市工業研究所, 6月13日, 名古屋 (2013).
• SPMの基礎と応用
  岩佐真行, SPMの基礎と応用, 東北大学素材評価学, 5月7日, 東北大学, 仙台 (2013).
• 走査型プローブ顕微鏡による電磁気計測
  山岡武博，走査型プローブ顕微鏡による電磁気計測，第74回応用物理学会秋季学術講演会 ランチセッション, 3月29日, 神奈川工科大学, 厚木 (2013).
• Effects of Microstructure on Electrode Properties of Nanosheet-Derived Hx(Ni1/3Co1/3Mn1/3)O2 for Electrochemical Capacitors
  M. Yano, S. Suzuki, M. Miyayama, M. Ohgaki, Effects of Microstructure on Electrode Properties of Nanosheet-Derived Hx(Ni1/3Co1/3Mn1/3)O2 for Electrochemical Capacitors, Nanomaterials Vol.3, NO.2, p.204-220 (2013).
• SPMによる電磁気計測とトライボロジー評価
  山岡武博, SPMによる電磁気計測とトライボロジー評価、 第151回 継電器・コンタクトテクノロジ研究会、2013年5月17日，東京（機械振興会館） (2013).
• 温度制御・磁場印加型-環境制御SPMによる各種永久磁石の磁気ドメイン観察
  山岡武博, 温度制御・磁場印加型-環境制御SPMによる各種永久磁石の磁気ドメイン観察、 2012年度　第3回プローブ顕微鏡による表面分析研究会、2013年2月8日、中部大学 (2013).
• SPMの応用技術～電流・電気容量・電位・磁気力イメージング
  山岡武博, SPMの応用技術～電流・電気容量・電位・磁気力イメージング， 産総研主催 平成24年度人材育成スクール「分析・評価スクール」講義，2013年1月.23日，つくば (2013).
• 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による高分子表面の観察と物性評価
  岩佐真行、走査型プローブ顕微鏡（SPM）による高分子表面の観察と物性評価, 日本包装学会誌　Vol.22 No.1, 23-30 (2013).

2012年

• Nd-Fe-B 系及びSm2Co17 系焼結磁石の着減磁過程における微構造と磁区構造変化
  小林 久理眞，漆畑 貴美子，山岡 武博, Nd-Fe-B 系及びSm2Co17 系焼結磁石の着減磁過程における微構造と磁区構造変化， 日本金属学会 第151回 学術講演会，2012年9月17～19日，愛媛 (2012).
• 磁気力顕微鏡による永久磁石の磁区観察
  山岡武博, 磁気力顕微鏡による永久磁石の磁区観察， 第6回　超高性能永久磁石の研究および応用動向調査専門委員会，2012年1月31日，東京 (2012).

2011年

• 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察
  山岡武博, 辻川葉奈, 廣瀬龍介, 伊藤亮, 川村博, 左近拓男, 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察, 日本磁気学会誌，35 60-66 (2011).
• Electric spectroscopy of vortex states and dynamics in magnetic disks
  Minori Goto, Hiroshi Hata, Akinobu Yamaguchi1, Yoshinobu Nakatani, Takehiro Yamaoka, Yukio Nozaki, and Hideki Miyajima, Electric spectroscopy of vortex states and dynamics in magnetic disks, Phys. Rev. B 84, 064406 (2011).
• 熱間加工磁石の初磁化挙動
  森田敏之，小島由梨，山岡武博, 熱間加工磁石の初磁化挙動,　日本金属学会秋期大会2011年11月7日．沖縄コンベンションセンター (2011).
• Nd-Fe-B系磁石（焼結磁石，熱間加工磁石，ボンド　磁石）へのMFM適用
  山岡武博, Nd-Fe-B系磁石（焼結磁石，熱間加工磁石，ボンド　磁石）へのMFM適用，新世代研究所主催 「高性能磁石開発とナノ計測技術」研究会第２回， ２０１１年1０月１３日， 東京 (2011).
• 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察
  山岡武博, 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察，新世代研究所主催 「高性能磁石開発とナノ計測技術」研究会第１回， ２０１１年1月１２日， 東京 (2011).
• 27pD-6, The 35th Annual Conference on MAGNETICS in Japan
  T. Yamaoka, H. Tsujikawa, R. Hirose, A. Ito, and H. Kawamura, 27pD-6, The 35th Annual Conference on MAGNETICS in Japan, Niigata (2011).
• 27pD-5, The 35th Annual Conference on MAGNETICS in Japan
  T. Yamaoka, Y. Kojima, H. Tsujikawa, R. Hirose, A. Ito, and H. Kawamura, 27pD-5, The 35th Annual Conference on MAGNETICS in Japan, Niigata (2011).
• 完全暗状態でのKFM測定の実現～SNDMによるカンチレバーの変位検出
  廣瀬龍介，山岡武博，長康雄, 完全暗状態でのKFM測定の実現～SNDMによるカンチレバーの変位検出， 31a-ZC-7，第72回応用物理学会，2011年8月30日 （山形大学）, (2011).
• 走査型プローブ顕微鏡の最前線と解析事例
  山岡武博, 走査型プローブ顕微鏡の最前線と解析事例, 化学工学会 反応工学部会CVD反応分科会主催 シンポジウム「薄膜評価・分析の基礎と最先端」 ，2011年6月10日, 東京 （京都大学 東京オフィス　品川インターシティA棟27 階） (2011).
• 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察
  山岡武博, 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察, 日本ボンド磁性材料協会主催、第79回 技術例会 「希土類磁石の開発動向と応用事例」，2011年5月19日, 東京 (2011).
• SPMパラダイムシフト－「走査」の概念を変えた高精度かつ実用的形状・物性マッピング手法と、SPM＆ビームテクノロジ融合によるレアアース分析の最前線
  山岡武博, SPMパラダイムシフト－「走査」の概念を変えた高精度かつ実用的形状・物性マッピング手法と、SPM＆ビームテクノロジ融合によるレアアース分析の最前線, nano tech 2011　シーズ＆ニーズセミナー, 2011年2月18日, 東京ビッグサイト (2011).
• 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察
  山岡武博, 高保磁力MFM探針によるNd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場観察, 高性能磁石材料とナノ計測技術研究会, 2011年1月12日, （財）新世代研究所 (2011).
• トピックス 特集 微細構造物の磁気的な可視化～磁気磁気力顕微鏡によるNd-Fe-B系磁石の磁区観察
  山岡武博, トピックス 特集 微細構造物の磁気的な可視化～磁気磁気力顕微鏡によるNd-Fe-B系磁石の磁区観察，まぐね／Magnetics Jpn. Vol.6, No.6，日本磁気学会， 321-328 (2011).
• 走査型プローブ顕微鏡による計測
  山岡武博, 走査型プローブ顕微鏡による計測，マイクロ・ナノ領域の超精密技術，オーム社, 303-311 (2011).
• 科学機器入門新シリーズ62
  山岡武博, 科学機器入門新シリーズ62, 走査型プローブ顕微鏡（SPM)，科学機器，No.75, 30-35 (2011).
• 走査型プローブ顕微鏡による高分子材料の評価
  岩佐真行、走査型プローブ顕微鏡による高分子材料の評価, 高分子学会主催高分子アドバンスド講座, (2011).
• 走査型プローブ顕微鏡（SPM）による構造観察と物性評価
  岩佐真行、走査型プローブ顕微鏡（SPM）による構造観察と物性評価, 高分子学会　接着と塗装研究会, (2011).

2010年

• MFM Observation of Neodymium Magnets for Electric Automobile with Ultra High Coercivity Probe in Vacuum Environment
  T. Yamaoka, H. Tsujikawa, R. Hirose, H. Kawamura and A. Ito, "MFM Observation of Neodymium Magnets for Electric Automobile with Ultra High Coercivity Probe in Vacuum Environment", CY-03, The 2nd International Symposium on Advanced Magnetic Materials and Applications (ISAMMA 2010), 2010.7.12-16, Sendai, Japan (2010).
• 磁気力顕微鏡の開発と微細磁気構造観察への応用
  山岡武博, 磁気力顕微鏡の開発と微細磁気構造観察への応用， 秋田大学 VBL研究計画発表会，2010年9月， 秋田 (2010).
• Nd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場MFM観察
  山岡武博、辻川葉奈、廣瀬龍介、伊藤亮、川村博, Nd-Fe-B磁石の熱消磁過程その場MFM観察，7aF-1，第34回日本磁気学会学術講演会，2010年9月，つくば (2010).
• 磁気力顕微鏡，磁気イメージングハンドブック 第４章
  石尾俊二，斉藤準，山岡武博, 磁気力顕微鏡，磁気イメージングハンドブック 第４章，共立出版， 95-130 （2010).
• 最新の走査型プローブ顕微鏡技術
  山岡武博, 最新の走査型プローブ顕微鏡技術， エレクトロニクス実装学会誌、７月号、288-293 (2010).
• ～ますます厳しくなる品質要求を支える～ 太陽電池・リチウムイオン電池部材の評価技術
  岩佐真行、～ますます厳しくなる品質要求を支える～ 太陽電池・リチウムイオン電池部材の評価技術, Material Stage, 10巻5号, 14-18 (2010).
• 走査型プローブ顕微鏡（SPM）の多様な測定手法とその応用
  岩佐真行、走査型プローブ顕微鏡（SPM）の多様な測定手法とその応用, 表面技術協会・ナノテク部会, 東京, (2010).
• 走査型プローブ顕微鏡による高分子材料の評価
  岩佐真行、走査型プローブ顕微鏡による高分子材料の評価, 高分子学会主催高分子アドバンスド講座, (2010).
• nano-TMAにおける真空の優位性
  岩佐真行、安藤和徳、吉田博久、nano-TMAにおける真空の優位性、日本熱測定学会、第46回熱測定討論会 (2010).

2009年

• 直交2軸電磁石型磁場印加MFMの開発と磁区構造解析への応用
  山岡武博，蓮村聡，安藤和徳，田村政史，辻川葉奈，山口明啓，宮島英紀, 直交2軸電磁石型磁場印加MFMの開発と磁区構造解析への応用，日本磁気学会誌，33 298-302 (2009).
• Current manipulation of a vortex confined in a micron-sized Fe19Ni81 disk
  A. Yamaguchi, K. Motoi, H. Miyajima, A. Hirohata, T. Yamaoka, T. Uchiyama, and Y. Utsumi, "Current manipulation of a vortex confined in a micron-sized Fe19Ni81 disk", Appl. Phys. Lett. 95, 122506_1-122506_3 (2009).
• Magnetic Force Microscopic Study on Domain-Wall Molecules in NiFe Nano Rings
  K. Sasage, N. Okamoto, H. Tsujikawa, T. Yamaoka, and E. Saitoh, ""Magnetic Force Microscopic Study on Domain-Wall Molecules in NiFe Nano Rings"", Solid State Phenomena, 152-153, 529-532 (2009).
• Magnetic force microscopy for domain-wall molecules in NiFe nano rings Solid State Phenomena
  K. Sasage, N. Okamoto, H. Tsujikawa, T. Yamaoka, E. Saitoh, Magnetic force microscopy for domain-wall molecules in NiFe nano rings Solid State Phenomena, Vol. 152-153, 529 (2009).
• Room Temperature Nanoimprinting Using Release-Agent Spray-Coated Hydrogen Silsesquioxane
  M. Okada, K. Nakamatsu, M. Iwasa, K. Kanda, Y. Haruyama, S. Matsui, Room Temperature Nanoimprinting Using Release-Agent Spray-Coated Hydrogen Silsesquioxane, Appl. Phys. Exp., 2, 016502 (2009).
• 温度制御型プローブ顕微鏡を用いたブレンドゴムの表面物性評価
  岩佐真行，温度制御型プローブ顕微鏡を用いたブレンドゴムの表面物性評価，熱量測定･熱分析ハンドブック第2版（丸善）, (2009).
• Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Investigation of Ferroelectric Domains
  R. Hirose and T. Yamaoka: "Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Investigation of Ferroelectric Domains", International Tutorial Workshop on Piezoresponse Force Microscopy - 5, August 19, 2009. National Institute for Materials Science (NIMS), Tsukuba, Japan (2009).
• 走査型サーマル顕微鏡法によるフォトレジスト薄膜の軟化温度測定
  岩佐真行，山岡武博，安藤和徳, 走査型サーマル顕微鏡法によるフォトレジスト薄膜の軟化温度測定，3MS1440，第45回 熱測定討論会， 2009年9月，東京 (2009).
• 走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM）による誘電率分布計測の試み
  廣瀬龍介，安武正敏，山岡武博，長康雄, 走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM）による誘電率分布計測の試み, 第70回応用物理学会，2009年9月，富山（富山大学） (2009).
• 高分解能磁気力顕微鏡による微細磁気構造の観察と解析
  山岡武博， 高分解能磁気力顕微鏡による微細磁気構造の観察と解析，第７回 SPMによる表面分析研究会、（財）科学技術交流財団主催, 2009年8月、愛知県産業貿易館、名古屋 (2009).

2008年

• 'Temperature Dependence of Release Effect for antisticking Layer in Nanoimprint by Scanning Probe Microscopy
  M. Okada, M. Iwasa, K. Nakamatsu, N. Yamada, K. Kanda, Y. Haruyama, S. Matsui, 'Temperature Dependence of Release Effect for antisticking Layer in Nanoimprint by Scanning Probe Microscopy', Jpn. J. Appl. Phys. 47, 7467 (2008).
• Evaluation of Fluorinated Diamond Like Carbon as Antisticking Layer by Scanning Probe Microscopy
  M. Okada, M. Iwasa, K. Nakamatsu, N. Yamada, K. Kanda, Y. Haruyama, S. Matsui, ' Evaluation of Fluorinated Diamond Like Carbon as Antisticking Layer by Scanning Probe Microscopy', J. Photopolym. Sci. Technol., 21, 597 (2008).
• 先端計測技術分野　科学技術・研究開発の国際比較 2008年版
  山岡武博，倉持宏美,磁気力（MFM），先端計測技術分野　科学技術・研究開発の国際比較 2008年版，独立行政法人科学技術振興機構　研究開発戦略センター, 10-11, 20 （2008).
• ナノ表面物性顕微鏡の進展
  山岡武博, ナノ表面物性顕微鏡の進展"，電子材料，47, 57-59 (2008).
• 電気力顕微鏡 EFM(DC) & EFM(AC) の開発と評価
  山岡武博，辻川葉奈，渡辺和俊，西村俊哉: "電気力顕微鏡 EFM(DC) & EFM(AC) の開発と評価", 第69回応用物理学会，2008年9月，愛知（中部大学）, (2008).

2007年

• Identification of Size Differences of Gold Nano-paritcles on Cell Surface by Curvature Reconstruction Method using Atomic Force Microscopy
  H. Kim, K. Oikawa, N. Watanabe, M. Shigeno, Y. Shirakawabe, K. Yasuda,　Identification of Size Differences of Gold Nano-paritcles on Cell Surface by Curvature Reconstruction Method using Atomic Force Microscopy, Jpn. J. Appl. Phys. Vol.46 No.8, L184 - L186 (2007).
• MFM探針による磁壁操作
  山岡武博，齊藤英治，町田賢司，渡辺和俊，白川部喜春，宮島英紀,MFM探針による磁壁操作，日本応用磁気学会誌，31, 221 (2007).
• Magnetic characterization of regularly aligned Y-shaped permalloy arrays
  K. Sato, K. Machida, T. Yamamoto, T. Ishibashi, T. Yamaoka, Magnetic characterization of regularly aligned Y-shaped permalloy arrays, J. Magn. Magn. Mater. 310, 2342 (2007).
• 走査型プローブ顕微鏡(SPM)の最新技術とアプリケーション ～ SIIナノテクにおける先進的なSPM技術開発と応用
  山岡武博, 野坂尚克, 岩佐真行, 走査型プローブ顕微鏡(SPM)の最新技術とアプリケーション ～ SIIナノテクにおける先進的なSPM技術開発と応用，将来展望について ～, 触媒学会 東北地区講演会　講演要旨集 pp.59-70 （2007).
• 鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ／基板の界面構造解析
  岩佐真行、山岡武博、完山正林、川田哲、大柿真毅、鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ／基板の界面構造解析、日本化学会第87春季年会、大阪、(2007).

2006年

• MFM observation of spin structures in nano magnetic dot arrays fabricated by damascene technique
  K. Sato, T. Yamamoto, T. Tezuka, T. Ishibashi, Y. Morishita, A. Koukitu, K. Machida, T. Yamaoka, MFM observation of spin structures in nano magnetic dot arrays fabricated by damascene technique, J. Magn. Magn. Mater.304 [1] , 10-13(2006).
• Magnetic Domain Wall Manipulation using MFM Probe
  T. Yamaoka, E. Saitoh , K. Watanabe, Y. Shirakawabe, H. Miyajima, Magnetic Domain Wall Manipulation using MFM Probe, The 16th International Microscopy Congress(IMC16), Abstracts 782 (2006).
• CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT USING NEW SCANNING MODE
  T.Nishimura, M.Yasutake, K.Watanabe, S.Wakiyama, CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT USING NEW SCANNING MODE, ALIGNED CARBON NANOTUBE SPM TIP,The 16th International Microscopy Congress(IMC16), Abstracts（2006).
• Nanoscale characterization of strained silicon by tip-enhanced Raman spectroscope in reflection mode
  Y.Saito, M.Motohashi, N.Hayazawa, M.Iyoki, S.Kawata, Nanoscale characterization of strained silicon by tip-enhanced Raman spectroscope in reflection mode, Appi. Phys. Lett. 88, 143109(2006).
• 温度制御型SPMによる高分子材料観察
  岩佐真行, 温度制御型SPMによる高分子材料観察, プラスチックス, Vol.57, No.7, 22-26 （2006).
• 環境制御型SPMによる電子材料／デバイスの測定技術
  岩佐真行, 環境制御型SPMによる電子材料／デバイスの測定技術, 月刊トライボロジー, No.231, 40-43 （2006).
• トリプルビーム装置を用いた低ダメージTEM試料作製
  完山正林・柳原佐知子・辻川葉奈・高橋春男・岩崎浩二・藤井利昭, トリプルビーム装置を用いた低ダメージTEM試料作製,LSIテスティングシンポジウム2006会議録, 109-114 （2006).
• 走査型プローブ顕微鏡における探針磨耗および試料ダメージの低減技術
  西村敏哉,走査型プローブ顕微鏡における探針磨耗および試料ダメージの低減技術, 月刊トライボロジー, No.228, 23-25 （2006).
• MFMの応用展開～ナノスケール磁性体の磁区観察の話題を中心として
  山岡武博， MFMの応用展開～ナノスケール磁性体の磁区観察の話題を中心として， 電子情報通信学会技術研究報告 IEICE Technical Report Vol. 105 No.531, 1-6 （2006).
• Ｎ型フェリ磁性記録マークにおける磁束反転の温度制御MFM観察
  山岡武博・荻本泰史・渡辺耕輔・小嶋邦男・片山博之, Ｎ型フェリ磁性記録マークにおける磁束反転の温度制御MFM観察,日本応用磁気学会誌, Vol.30, No.4, 472-475 (2006).
• ダマシン法によるY字型Ni80Fe20構造規則配列の作製と磁気的評価
  山本 尚弘, 町田 賢司, 山岡 武博, 石橋 隆幸, 佐藤 勝昭, ダマシン法によるY字型Ni80Fe20構造規則配列の作製と磁気的評価, J. Magn. Soc. Jpn., 30, 162 (2006).
• 両親媒性ブロック共重合体が形成するナノ構造体中の相転移挙動のAFMによる直接観察
  北島 慎太郎, 鄭 先怜, 山田 武, 吉田 博久, 岩佐 真行, 両親媒性ブロック共重合体が形成するナノ構造体中の相転移挙動のAFMによる直接観察, 第42回熱測定討論会　講演要旨集, 116-117 (2006).
• NANO-SCALE PHASE TRANSITION WITHIN HYDROPHILIC CYLINDER FORMED BY AMPHIPHILIC DI- BLOCK COPOLYMER
  Shintaro Kitajima, Jung SunYoung, Takeshi Yamada, Hirohisa Yoshida, Masanori Iwasa, NANO-SCALE PHASE TRANSITION WITHIN HYDROPHILIC CYLINDER FORMED BY AMPHIPHILIC DI- BLOCK COPOLYMER, Asian coference on Nanoscience & nanotechnology abstract book, 197-198 (2006).
• Nanoscale characterization of strained silicon by tip-enhanced Raman spectroscope in reflection mode
  Y.Saito, M.Motohashi, N.Hayazawa, M.Iyoki, S.Kawata, Nanoscale characterization of strained silicon by tip-enhanced Raman spectroscope in reflection mode, Appi. Phys. Lett. 88, 143109 (2006).
• Critical Dimension Measurement Using New Scanning Mode and Aligned Carbon Nanotube SPM Tip
  M. Yasutake, K. Watanabe, S. Wakiyama, T. Yamaoka, Critical Dimension Measurement Using New Scanning Mode and Aligned Carbon Nanotube SPM Tip, Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 45, No. 3B, pp.1970-1973. (2006).
• Observations of a Single Magnetic Domain Wall in a Nano-Magnet with Magnetic Force Microscopy Japanese Journal of Applied Physics
  T. Yamaoka, K. Watanabe, Y. Shirakawabe, K. Chinone, E. Saitoh, H. Miyajima, Observations of a Single Magnetic Domain Wall in a Nano-Magnet with Magnetic Force Microscopy Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 45, No. 3B, 2006, pp.2230-2233. (2006).

2005年

• Domain structures and magnetic ice-order in NiFe nano-network with honeycomb structure Journal of Applied Physics 97
  M. Tanaka, E. Saitoh, H. Miyajima, T, Yamaoka, Y. Iye, Domain structures and magnetic ice-order in NiFe nano-network with honeycomb structure Journal of Applied Physics 97, 10J710/1-10J710/3. (2005).
• Measurement of epoxy resin thermal curing temperature by the environment controllable SPM
  M. Iwasa, K. Ando, S. Hasumura, Y. Shikakura, N. Okubo, K. Nakamura, K. Watanabe, Measurement of epoxy resin thermal curing temperature by the environment controllable SPM, STM'05/ICSPM13, Sapporo(Japan), Abstract, Wed-Pos-61. (2005).
• Measurement of Surface Transition Temperature of Polymer Materials using Scanning Probe Microscope
  K. Nakamura, T. Yamaoka, K. Ando, Y. Ichimura, N. Okubo,　K. Watanabe, Y. Shikakura, A. Nihei, M. Iwasa, T. Nishimura, Measurement of Surface Transition Temperature of Polymer Materials using Scanning Probe Microscope,STM'05/ICSPM13, Sapporo(Japan), Abstract, Tue-Pos-58, (2005).
• Functional Nano-Probes and NEW-SPM System for Bio-Imaging
  Y. Shirakawabe, A. Nihei, O. Matsuzawa, M. Shigeno, N. Watanabe, T. Ohtani, S. Sugiyama, T. Yoshino, H. Sekiguchi, H. Muramatsu , A. Inoue, Functional Nano-Probes and NEW-SPM System for Bio-Imaging,STM'05/ICSPM13, Sapporo(Japan), Abstract, Wed-Pos-12, (2005).
• Applications of high-resolution MFM system with low moment probe in a vacuum
  T. Yamaoka, K. Watanabe, Y. Shirakawabe, K. Chinone, E. Saitoh, M. Tanaka, H. Miyajima, Applications of high-resolution MFM system with low moment probe in a vacuum, IEEE Transaction on Magnetics 41, 2565 (2005).
• CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT USING NEW SCANNING MODE AND ALIGNED CARBON NANOTUBE SPM TIP
  T.Nishimura, M.Yasutake, K.Watanabe, S.Wakiyama, CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT USING NEW SCANNING MODE AND ALIGNED CARBON NANOTUBE SPM TIP,The 11th International Beijing Conference and Exibition on Instrumental Analysis(BCEIA2005), Abstracts（2005).
• 多機能AFMシステムの現状と将来
  市村　裕, 多機能AFMシステムの現状と将来, 超精密（精密工学会　超精密加工専門委員会会誌）, Vol15（2005).
• 温度制御型プローブ顕微鏡によるエポキシ樹脂表面のキャラクタリゼーション
  岩佐真行, 　安藤和徳, 　大久保信明,温度制御型プローブ顕微鏡によるエポキシ樹脂表面のキャラクタリゼーション, 　第41回熱測定討論会　講演要旨集, 216-217（2005).
• バイオインターフェイスを見る
  繁野雅次,バイオインターフェイスを見る, バイオマテリアル, Vol.23, No.4, 287-295（2005).
• 走査型プローブ顕微鏡による解析手法
  西村敏哉, 走査型プローブ顕微鏡による解析手法, 第39回 ISSEC先進デバイス技術シンポジウム論文集, 135-161（2005).
• 高分子材料における走査型プローブ顕微鏡の応用
  二瓶亜三子,高分子材料における走査型プローブ顕微鏡の応用, 月間「接着」, Vol.49, No.4, 33-38（2005).
• 走査型プローブ顕微鏡の基礎と応用
  山岡武博, 走査型プローブ顕微鏡の基礎と応用, 材料技術, Vol.23 No.4, 211-230（2005).
• NiFeナノ六角格子における磁気秩序
  田中雅章, 齊藤英治, 宮島英紀, 山岡武博, 家泰弘, NiFeナノ六角格子における磁気秩序,日本応用磁気学会誌 29, 111-114（2005).

(2005年度 日本応用磁気学会 論文賞受賞)

2004年

• Current-induced resonance and mass determination of a single magnetic domain wall
  Eiji Saitoh, Hideki Miyajima, Takehiro Yamaoka, Gen Tatara, Current-induced resonance and mass determination of a single magnetic domain wall,Nature 432, 203-206 (2004).
• High-Resolution Magnetic Force Microscopy
  T. Yamaoka, Applications of High-Sensitivity, High-Resolution Magnetic Force Microscopy, International Disk Forum, S6-26～43, June 8-10, (2004).
• 非線形誘電率顕微鏡による半導体試料のキャパシスタンス測定
  安藤和徳,倉持宏美,蓮村聡,渡辺和俊,横山浩,　非線形誘電率顕微鏡による半導体試料のキャパシスタンス測定,表面科学,Vol.25,No.5, 296-299 (2004).
• Manipulation of vortex circulation in decentered ferromagnetic nanorings
  E. Saitoh, M. Kawabata, K.Harii, H. Miyajima, , T. Yamaoka, Manipulation of vortex circulation in decentered ferromagnetic nanorings,Journal of Applied Physics, Vol.95, No.4, 1986 (2004).
• 磁気力顕微鏡の原理と応用
  山岡武博,磁気力顕微鏡の原理と応用,日本分析化学会 「ぶんせき」, 2004年1月号 44-45 (2004).

2003年

• Domain-wall trapping in a ferromagnetic nano-wire network
  E. Saitoh, M. Tanaka, H. Miyajima, T.Yamaoka, Domain-wall trapping in a ferromagnetic nano-wire network,Journal of Applied Physics,Vol.93, No.10, 7444 (2003).
• カーボンナノチューブのSPMへの応用
  井上明,カーボンナノチューブのSPMへの応用, 砥粒加工学会誌 ,Vol.47,No.8, 426-429 (2003).
• 走査容量顕微鏡
  西村敏哉, 走査容量顕微鏡,ナノテクノロジーハンドブック（オーム社）, 第2巻, 11-15 （2003).
• 高感度・高分解能MFMシステムの開発
  山岡武博, 渡辺和俊, 白川部喜春, 茅根一夫, 高感度・高分解能MFMシステムの開発,日本応用磁気学会誌, Vol.27, No.4, 429-433 (2003).
• 磁気力顕微鏡
  山岡武博, 石尾俊二, 磁気力顕微鏡, ナノテクノロジーハンドブック（オーム社）, 第2巻, （2003).
• 高感度・高分解能MFMシステム
  山岡武博, 高感度・高分解能MFMシステム,日本応用磁気学会第129回研究会「磁気センサ・磁気計測技術の最新動向」資料, 63-70 (2003).

2002年

• Observation of recording pits on phase-change film using a scanning probe microscope
  T. Nishimura, M. Iyoki, S. Sadayama, Observation of recording pits on phase-change film using a scanning probe microscope, Ultramicroscopy, 91, 119-126 (2002).
• シリコーン処理を施した電子線硬化ポリウレタンアクリレート表面の走査型プローブ顕微鏡による摩擦力測定
  宮田忠和, 山岡武博,シリコーン処理を施した電子線硬化ポリウレタンアクリレート表面の走査型プローブ顕微鏡による摩擦力測定, 高分子論文集, Vol.59, No.7, 415-420 (2002).
• 磁場中MFMを用いた面内磁気記録媒体における磁気クラスター観察
  高星英明, 斉藤準, 石尾俊二, 山岡武博, 岡本巌, 磁場中MFMを用いた面内磁気記録媒体における磁気クラスター観察,日本応用磁気学会誌, Vol.26, No.4, 284 (2002).
• 相変化膜記録ピットの走査型非線形誘電率顕微鏡による観察
  西村敏哉,渡辺和俊,安武正敏,長康雄, 相変化膜記録ピットの走査型非線形誘電率顕微鏡による観察,第49回応用物理学関係連合講演会予稿集（2002).
• 磁気力顕微鏡を用いた磁区構造解析技術の最近の動向
  石尾俊二,斉藤準, 高星英明,伊藤弘高,山岡武博,磁気力顕微鏡を用いた磁区構造解析技術の最近の動向日本応用磁気学会誌, Vol.26, No.10（2002） 1034 (2002).

2001年

• Direct observation on a 12-in. silicon wafer using large atomic force microscopy
  T. Nishimura, S. Wakiyama, M. Yasutake, Y. Sugano, N. Fujino, Direct observation on a 12-in. silicon wafer using large atomic force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. B, Vol.18, No.3 (2000) 1190-1193.
• Quantitative measurements of Friction coefficient of Polymer surface by Scanning probe microscopy
  T.Yamaoka, T.Miyata, Quantitative measurements of Friction coefficient of Polymer surface by Scanning probe microscopy, Tokyo-2001, SPM, Sensors, Nanostructures, Abstracts, 61 （2001).
• 走査型プローブ顕微鏡による試料間の定量的摩擦特性評価
  山岡武博, 走査型プローブ顕微鏡による試料間の定量的摩擦特性評価,月間トライボロジ,　2001年6月号,　24-27 (2001).
• 走査型プローブ顕微鏡と動的粘弾性測定によるポリプロピレンブロックコポリマーのキャラクタリゼーション
  大久保信明, 山岡武博, 走査型プローブ顕微鏡と動的粘弾性測定によるポリプロピレンブロックコポリマーのキャラクタリゼーション, 熱測定 Vol.28, No.1, 38-39 (2001).
• ピエゾ抵抗型自己検知カンチレバーの製作
  白川部善春, 新井正, 高橋寛, ピエゾ抵抗型自己検知カンチレバーの製作,　第62回応用物理学会学術講演会予稿集 （2001).
• 近接場光を利用した光計測技術
  伊与木誠人, 近接場光を利用した光計測技術, レーザ協会誌, 第25巻第4号, (2001).

2000年

• Direct observation on a 12-in. silicon wafer using large atomic force microscopy
  T. Nishimura, S. Wakiyama, M. Yasutake, Y. Sugano, N. Fujino, Direct observation on a 12-in. silicon wafer using large atomic force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. B, Vol.18, No.3, 1190-1193 (2000).

1999年

• 水溶液試料のポリイミドフィルム点滴による微量金属EDS分析
  杉原敬一, 田村浩一, 佐藤正雄, 水溶液試料のポリイミドフィルム点滴による微量金属EDS分析, Ｘ線分析の進歩 30 (1999).
• ポータブル蛍光 X 線分析装置の開発と国宝源氏物語絵巻の分析
  早川泰弘、平尾良光、三浦定俊、田村浩一、杉原敬一、佐藤正雄、四辻秀紀、徳川義崇, ポータブル蛍光 X 線分析装置の開発と国宝源氏物語絵巻の分析, 日本分析化学会第48年会講演要旨集 (1999).
• 元素組成による地層対比の試み―坑井地質調査における蛍光X線分析法の適用―
  石橋正敏, 小田浩, 波多野佳子, 田村浩一, 出口匡, 元素組成による地層対比の試み―坑井地質調査における蛍光X線分析法の適用―, 平成11年度石油技術協会春季講演 (1999).
• ポータブル蛍光Ｘ線分析装置の開発と文化財試料への適用
  早川泰弘, 平尾良光, 三浦定俊, 田村浩一, 杉原敬一, 佐藤正雄, 四辻秀紀, 徳川義崇, ポータブル蛍光Ｘ線分析装置の開発と文化財試料への適用, 日本文化財科学会第16回大会研究発表要旨集 (1999).
• 可搬型蛍光X線分析計の利用
  田村浩一, 可搬型蛍光X線分析計の利用, Isotope News1999, Nov. (1999).
• Energy-dispersive x-ray analysis of trace metals in micro amounts of aqueous samples by an ultra-thin film droplet method
  Keiichi Sugihara, Koichi Tamura, Masao Sato, Katsumi Ohno , Energy-dispersive x-ray analysis of trace metals in micro amounts of aqueous samples by an ultra-thin film droplet method, X-Ray Spectrometry Volume 28 Issue 6 (1999).
• ポータブル蛍光Ｘ線分析装置の開発と文化財試料への適用
  田村浩一, 杉原敬一, 佐藤正雄, 早川泰弘, 平尾良光, 三浦定 俊,四辻秀紀, 徳川義崇, ポータブル蛍光Ｘ線分析装置の開発と文化財試料への適用, 第35回Ｘ線分析討論会発表要旨集 (1999).

1997年

• 温度制御走査型プローブ顕微鏡とその応用
  山岡武博、中村信隆、寺本芳彦, 温度制御走査型プローブ顕微鏡とその応用、 第33回熱測定討論会予稿集 （1997).

1996年

• Instrumentation of the High-Vacuum Atomic Force Microscope
  M. Yasutake, T. Yamaoka, Y. Nagatani,　Instrumentation of the High-Vacuum Atomic Force Microscope, Jpn. J. Appl. Phys. Vol.35, No.6B, 3783 (1996).

関連情報

走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。