ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)
  5. SEM-AFMコリレーションデータ

SEM-AFMコリレーションデータ

SEM-AFMコリレーションデータ

SEM-AFM共通ホルダを使用することで、SEMによる組織、組成、元素分布観察等と、AFMによる3D形状計測と硬さや摩擦、吸着などの力学物性情報や電流、電気抵抗、表面電位、磁性などの電磁気物性情報の同一箇所での解析評価が手軽にできるようになりました。
SEMによるコントラストの起源をAFMによる高精度3D形状計測と物性観察により追求できる、日立ハイテクグループが提供する新たなSEMとAFMのコラボレーションによるソリューション事例を中心にご紹介します。

SEM-AFMコリレーションデータ

AFMアプリケーションデータ

併せて、 AFMによる高精度3D形状計測や各種物性評価事例についてもご紹介します。

この他にも多様なAFMアプリケーション事例をご紹介しています。

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。

S.I.navi

「S.I.navi」は、日立ハイテク取扱分析装置に関する会員制サイトです。
お客さまの知りたいこと、日々の業務に役立つ情報を「S.I.navi」がサポートします。

Semevolution

日立電子顕微鏡をご使用されているお客さまは、「S.I.navi」上で製品情報をご登録いただくと、日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」にて、さらに多くの関連情報をご覧いただけます。

お問い合わせ