TMシリーズ専用エネルギー分散型X線分析装置 Elementシリーズ

据置型SEM用EDSの性能を卓上顕微鏡へ

米国EDAX製EDSです。Si₃N₄ウィンドウSDDはマッピング速度や検出限界を向上した高計数率EDSです。

* TM4000シリーズとの組み合わせ例

* 検出器内蔵型（製造元：EDAX Inc.）

価格：お問い合わせください

取扱会社：株式会社日立ハイテク

特長

Si₃N₄ウィンドウで低エネルギーX線の透過率を最適化。
特に軽元素が高感度に分析可能です。

従来のポリマーウィンドウ検出器と比べて、Si3N4ウィンドウ検出器はX線計数率がアップしているため、マッピング速度、検出限界が向上しています。

弊社製品を使用した社内外の研究論文、技術情報、アプリケーションおよび新製品情報を公開しています。

SEMの測定例を紹介します。

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