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走査型プローブ顕微鏡システム「AFM5500MⅡ」を発売

同一試料を複数の解析装置で観察する際の観察精度・操作性を向上させた、走査型プローブ顕微鏡システム「AFM*15500MⅡ」を発売

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EDUCATION

日立ハイテク×市岡元気先生_動画　祝100本超！！

コラボ実験動画の公開本数が100本を超えました。最新動画をお楽しみください。

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NEW PRODUCT

高精度電子線計測システム「GT2000」を発売

High-NA EUV世代のデバイス開発と量産におけるニーズに応えた高精度電子線計測システム「GT2000」を発売

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SERIALS

電子顕微鏡から広がる世界　第6回

Miniscopeを活用した研究活動について愛媛大学附属高等学校を取材

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INTERVIEW

技術機関誌 SI NEWS

理化学研究所　原田 研 氏
物理現象そのものを電子顕微鏡で観察する挑戦　ー「波動粒子の二重性」その不思議の実証に挑む

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