JASIS 2024 日立ハイテクグループブースのご案内
幕張メッセ国際展示場8ホール
日立ハイテクブースは、今年も「リアル」「オンライン」のハイブリッドで出展します！
日立ハイテクブースでは、「持続可能な社会の実現に貢献する日立ハイテク」をテーマに社会課題や皆様の業務課題を解決する最新のソリューションをご提案させていただきます。
日頃の分析・解析業務でお困り事のある皆様、ぜひ日立ハイテクブースにお越しください。また、ブースにご来場いただけない方は、本年もオンラインでご覧いただける各種コンテンツをご用意しております。
展示会場へ来場を予定されている方
アンケートにお答えいただいた方にはもれなく記念品を差し上げます。さらに案内状をダウンロードし来場された方には特別記念品もご用意しております。
事前アンケートにお答えいただいた方にもれなく「今治ミニタオルハンカチ」を差し上げます。
※入力いただいた各情報について不十分な場合は発送できない場合がありますので予めご了承ください。
さらに、アンケート回答後に表示される案内状を日立ハイテクブース各コーナーにお持ちいただいた方、各日先着100名様に「マルチ3inケーブル（USB Type-C、Micro USB、Lightning）」をプレゼント。
ぜひ、日立ハイテクブースにご来場ください。
下記「アンケートはこちら」よりアンケートに回答いただいた方に「今治ミニタオル」を差し上げます。
アンケート回答後に表示される案内状を日立ハイテクブースにお持ちいただくと「マルチ3inケーブル（USB Type-C、Micro USB、Lightning）」を差し上げます。
出展製品のご案内
◆トピックス製品
◆その他 出展製品
- 熱分析・粘弾性装置 総合情報サイト
- 液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）総合情報サイト
- 分光分析装置（UV-Vis/NIR, FL）総合情報サイト
- 原子吸光光度計（AA）総合情報サイト
- ICP発光分光/質量分析装置（ICP-OES/ICP-MS） 総合情報サイト
- 蛍光X線分析装置（XRF）総合情報サイト
- 電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定）総合情報サイト
- オンサイト（ハンドヘルド/モバイル）元素分析装置
- 固体発光分光分析装置（OES）総合情報サイト
- 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
- 集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
- ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
- Materials Informatics
- 検査データ管理システム「LabDAMS」
新技術説明会のご案内
最先端の分析技術や注目のトピックスをご紹介します。
| 日時 | 会場 | 講演タイトル | 要旨 | |
|---|---|---|---|---|
| 9月4日(水) | 10:15〜11:15 | TKP（旧アパ）会場 No.10-11号室 |
知って納得! 動的粘弾性測定(DMA)で良いデータを出すための考え方と最新NEXTA DMAの測定サポート機能 |
DMAで良いデータを得るには、測定原理の理解と装置の使いこなしが重要です。 本講演ではDMAの基礎の解説と、 最新のNEXTA DMAが持つ測定をサポートする機能や、最新のアプリケーションをご紹介します。 |
| 11:15〜11:45 | TKP（旧アパ）会場 No.7号室 |
知って納得! 分光光度計の基礎と測定術 |
分光光度計の基礎やすぐに実践できる測定術、メンテナンスについてご紹介します。 | |
| 12:45〜13:15 | TKP（旧アパ）会場 No.1号室 |
知って納得! フレーム原子吸光光度計の多元素連続測定 |
新機能ラピッドシーケンシャル測定の原理、アプリケーションについてご紹介します。 精度や感度はそのままで測定時間を短縮し、ユーザーの負担も軽減できるので、複数元素のフレーム測定をされている方は必見です。 |
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| 14:00〜14:30 | 幕張メッセ会議場 103会議室 |
知って納得! 分光・蛍光分析の自動化とプロセスモニタへの適用 |
製造現場において製品の品質を評価するプロセスモニタリングはとても重要です。 ここでは分光分析や蛍光分析の自動化の基礎的概念と事例 、プロセスモニタへの応用例をご紹介します。 |
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| 14:45〜15:15 | 幕張メッセ会議場 105会議室 |
☆進化したSEM-AFM相関イメージング ☆高精度リンケージによる物性解析が可能な新製品AFM5500MⅡのご紹介 |
新製品AFM5500MⅡでは定評のある操作の自動化機能に加え、新たに電気物性機能とSEM-AFMリンケージ機能が搭載されました。これらの機能による形状/物性/組成の相関解析事例をご紹介します | |
| 15:45〜16:15 | TKP（旧アパ）会場 No.3号室 |
知って納得! 蛍光X線分析の基礎と応用およびリサイクル材料分析への活用 |
スラグ、燃焼灰、およびRPF(古紙や廃プラスチックなどを主原料とした固形燃料)などのリサイクル材料の分析用途に注目されている蛍光X線分析の基礎から応用までの分析のコツをご紹介します | |
| 9月5日(木) | 10:15〜10:45 | TKP（旧アパ）会場 No.2号室 |
ルーチン作業を自動化! 新型FE-SEMとアプリケーション事例のご紹介 |
自動化機能を拡充したユーザーフレンドリーなショットキー型FE-SEM「SU3800SE/SU3900SE」が登場しました。 本発表では、新装置の特長とアプリケーション事例をご紹介します |
| 11:15〜11:45 | 幕張メッセ会議場 101会議室 |
知って納得! 環境規制で取り上げられている化学物質のスクリーニング測定方法のご紹介 |
欧州RoHS指令において特定有害化学物質のスクリーニング測定方法は、IEC62321-3シリーズで規定されています。 今回は、その中のいくつかの化学物質のスクリーニング測定方法をご紹介します。 |
|
| 12:30〜13:00 | TKP（旧アパ）会場 No.4号室 |
次世代の人材のための卓上SEM。 日立卓上顕微鏡Miniscopeシリーズ最新情報 |
卓上SEMが市場に出始め、20年近くが経ちました。卓上SEMのニーズもより多様化・細分化されてきている中、解析業務へ立ち向かう、次世代の研究者・エンジニアに卓上SEMの最新情報をお届けします。 | |
| 13:30〜14:00 | TKP（旧アパ）会場 No.9号室 |
知って納得! 材料分析で役立つICP-OESの使い方 |
材料分析においてICP-OESは幅広く使われています。ここでは材料分析における測定手法や装置の選び方、アプリケーションをご紹介します。 | |
| 14:45〜15:15 | TKP（旧アパ）会場 No.8号室 |
☆白色干渉顕微鏡CSIによる3D形状計測は次のステージへ ☆SEMやAFMとの相関解析アプリケーションのご紹介 |
電池や高分子、半導体など様々な分野でCSIは用いられています。従来のCSIによる高精度形状計測に加え、元素や物性などの様々な情報ニーズに応える複数顕微鏡活用術をご紹介します。 | |
| 15:30〜16:00 | 幕張メッセ会議場 103会議室 |
偏光顕微観察DSC ～微小領域の融点や微結晶などの偏光特性の観察を熱分析で実現～ |
偏光顕微鏡機能付き高解像度カメラによる試料観察DSCは、新たな画像処理機能を開発したことで、DSCだけでは検出困難なフィッシュアイ等の微小部の融点解析を実現。微小領域の新しい熱物性評価法をご紹介します。 | |
| 9月6日(金) | 10:30〜11:00 | TKP（旧アパ）会場 No.5号室 |
ATP法による微生物迅速検査装置Lumione BL3000の測定例のご紹介 | 微生物迅速検査装置Lumione BL3000は、測定原理にATP法を採用しており、微生物の有無を迅速に判定できる装置です。 本装置による様々なサンプルや製品の測定例をご紹介します。 |
| 12:45〜13:15 | TKP（旧アパ）会場 No.3号室 |
知って納得! HPLC検出器の選択法とユニークなアプリケーションのご紹介 |
HPLCの特徴のある検出器やシステムとそれらを用いたアプリケーションをご紹介します。 UV吸収のない成分(糖やアミノ酸など)の分析でお困りの方や、これから分析を考えている方におすすめです。 |
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| 14:15〜14:45 | TKP（旧アパ）会場 No.1号室 |
【AI技術と撮像画像】 今、知っておくべき機械学習を用いた画像解析技術と事例のご紹介 |
製造業ではマテリアルズ・インフォマティクスを活用した開発や歩留まり改善などの効率化が加速しています。 新しい開発や製造の在り方として、AI技術を用いた画像解析事例を実際の撮像画像と共にご紹介します。 |
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| 14:45〜15:15 | 幕張メッセ会議場 103会議室 |
知って納得! 分析・解析装置によるリチウムイオン電池のトータルソリューションのご紹介 |
製造工程における混入異物の検査、不純物濃度の管理および部材の形態・構造評価は製品信頼性の維持や改善の面から重要です。ここでは電子顕微鏡、元素分析装置などによるリチウムイオン電池の測定例をご紹介します。 | |
| 14:45〜15:15 | TKP（旧アパ）会場 No.8号室 |
必見! 今更聞けないカールフィッシャー水分測定の基礎とコツ |
カールフィッシャー水分測定の基本および試料に適した測定方法についてご紹介します。 | |
| 15:45〜16:15 | TKP（旧アパ）会場 No.9号室 |
Nu Instruments社の飛行時間型ICP-MSおよびグロー放電質量分析計の最新技術情報のご紹介 | Nu Instruments社の飛行時間型ICP-MS Vitesseを使った最新のアプリケーションや、GD-MS Astrumの新モデルの特長についてご紹介します。 | |
オンラインでの参加を予定されている方
アンケートにお答えいただいた方にはもれなく記念品を差し上げます。ご来場いただける場合は、案内状のダウンロードをお忘れなく。
事前アンケートにお答えいただいた方にもれなく「今治ミニタオルハンカチ」を差し上げます。
※入力いただいた各情報について不十分な場合は発送できない場合がありますので予めご了承ください。
さらに、ご予定が変更になりご来場いただける場合は、アンケート回答後に表示される案内状を日立ハイテクブース各コーナーにご持参ください。
各日先着100名様に「マルチ3inケーブル（USB Type-C、Micro USB、Lightning）」をプレゼント。
ぜひ、日立ハイテクブースにご来場ください。
下記「アンケートはこちら」よりアンケートに回答いただいた方に「今治ミニタオル」を差し上げます。
アンケート回答後に表示される案内状を日立ハイテクブースにお持ちいただくと「マルチ3inケーブル（USB Type-C、Micro USB、Lightning）」を差し上げます。
出展製品のご案内
◆トピックス製品
◆その他 出展製品
- 熱分析・粘弾性装置 総合情報サイト
- 液体クロマトグラフ（HPLC、アミノ酸分析計）総合情報サイト
- 分光分析装置（UV-Vis/NIR, FL）総合情報サイト
- 原子吸光光度計（AA）総合情報サイト
- ICP発光分光/質量分析装置（ICP-OES/ICP-MS） 総合情報サイト
- 蛍光X線分析装置（XRF）総合情報サイト
- 電気化学分析装置（滴定、水質、水分測定）総合情報サイト
- オンサイト（ハンドヘルド/モバイル）元素分析装置
- 固体発光分光分析装置（OES）総合情報サイト
- 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM）
- 集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）
- 走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM）
- ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
- Materials Informatics
- 検査データ管理システム「LabDAMS」
セミナー動画やアプリケーションデータは会員制サイト「S.I.navi」で
「日立ハイテクの解析・分析機器情報が、ワンストップかつ最短で手に入る情報検索ポータルサイト」
過去に実施したセミナーやアプリケーションデータなどご覧いただけます。
※セミナー動画では、実施した際のQ&Aもご覧いただけます。
webで行く展示会「ハイテクEXPO」
ハイテクEXPOに簡易登録いただくと、製品の操作性やメンテナンス方法がひと目でわかる実感動画や、分析・観察のコツや製品の使い方を解説しているプレゼンテーション動画、製品やアプリケーションパネルもご覧いただけます。
会場にお越しいただけない方は、ぜひ、webで行く展示会「ハイテクEXPO」をご覧ください。
熱分析装置 NEXTA DSCシリーズ
サンプリング～測定・解析
原子吸光光度計の最新技術をご紹介
走査型プローブ顕微鏡導入事例
最新情報は情報機関誌「SI NEWS」Twitterでチェック
JASIS2023に関する情報は「SI NEWS」公式Twitterで発信します。
その他、SI NEWSに掲載した研究論文や技術解説文の紹介と、社内外の科学・技術のトピックもご覧いただけます。
Webセミナー情報
分析、解析装置の基礎からテクニックや、メンテナンス、ユーザースクール等豊富な講演ラインアップを有する日立のWebセミナーにぜひご参加ください。
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