ページの本文へ

日立ハイテク
  1. Home
  2. 技術情報
  3. 電子顕微鏡/プローブ顕微鏡
  4. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)
  5. 走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM):原理解説
  6. 用語集
  7. Force Curve: DFM

Force Curve: DFM

フォースカーブ:DFM (Force Curve)

フォースカーブとは、探針・試料間の距離の上限・下限を設定して定点を上下動させ、探針・試料間の距離とカンチレバーに働く力(振幅減衰量)との関係をプロットした曲線。DFM(ダイナミック;フォース)測定モードでは、探針・試料間を近づけていくと、原子間力等の相互作用によりカンチレバーの振動振幅(Amplitude)は徐々に小さくなる。探針・試料間の距離が接触し始める程度まで近づくと、近距離力が急激に作用し、振動振幅も急に小さくなる。DFMではこの近距離力が大きく作用し始めたときの振幅を動作点として測定する。

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。

S.I.navi

「S.I.navi」は、日立ハイテク取扱分析装置に関する会員制サイトです。
お客さまの知りたいこと、日々の業務に役立つ情報を「S.I.navi」がサポートします。

Semevolution

日立電子顕微鏡をご使用されているお客さまは、「S.I.navi」上で製品情報をご登録いただくと、日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」にて、さらに多くの関連情報をご覧いただけます。

お問い合わせ

関連コンテンツ