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SMM (Scanning Maxwell-stress Microscope)

SMM (表面電位顕微鏡/マックスウェル応力顕微鏡:Scanning Maxwell-stress Microscope)

SMM(表面電位顕微鏡/マックスウェル応力顕微鏡)とは、表面電位分布を測定するSPM(走査型プローブ顕微鏡)の測定モードの一種。カンチレバーと試料の間に交流および直流の合成電界を作用させ、そのときの静電気力によるカンチレバー振動の応答から試料の微小領域の表面電位を検出し画像化する。

関連情報

走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
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