SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡:Scanning Nonlinear Dielectric Microscope)
SNDM (走査型非線形誘電率顕微鏡:Scanning Nonlinear Dielectric Microscope)
SNDM(走査型非線形誘電率顕微鏡)モードでは、試料に交流電圧を印加して探針を走査し、誘電率変化(dC/dV)に起因するLC共振回路の周波数変化を検出し、AFM(原子間力顕微鏡)形状像と同時に誘電率分布を画像化する。強誘電体の分極状態や半導体ドーパント濃度等を観察する。
関連情報
走査型プローブ顕微鏡(SPM/AFM)に関する測定手法、測定例の一部を、会員制情報検索サイト「S.I. navi」でご提供しています。
リストの一部はこちらからご覧いただけます。
「S.I.navi」は、日立ハイテク取扱分析装置に関する会員制サイトです。
お客さまの知りたいこと、日々の業務に役立つ情報を「S.I.navi」がサポートします。
日立電子顕微鏡をご使用されているお客さまは、「S.I.navi」上で製品情報をご登録いただくと、日立電子顕微鏡ユーザー限定サイト「Semevolution(セメボリューション)」にて、さらに多くの関連情報をご覧いただけます。