1996年度作品「さわやか高原のレタス畑」
©（株）日立製作所 計測器事業部 高橋要
©日立計測器サービス（株） 松本徳三郎
小高い丘の上、規則的に並んだレタスの列の向こうには晴れやかな空。
実は、これは16M DRAMメモリー素子のキャパシタ部分です。最先端を行く半導体技術も、このようなのどかな風景の中で培われたのかも知れません。
それにしてもこの写真、どのようにして撮影したのでしょうか？
1996年（第52回）日本電子顕微鏡学会
写真コンクール 出展作品
撮影条件
- 試料：16M DRAM
- 測定装置：走査電子顕微鏡 S-4200＋PCI形高精細画像取り込み装置
*: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。
*: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。
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