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ナノアート

2010年度作品「金鯱」

金鯱
©(株)日立ハイテク 工藤美樹、黒田靖、森川晃成、中澤英子

眩い輝きを放つ金鯱。
シリコンウェハからFIBマイクロサンプリング法で高さ約10µmの試料を摘出し、3D解析ホルダーを用いて金鯱を作製しました。守り神として、また豊かさの象徴として尾張名古屋に根付いた金鯱は、FIBの加工技術によってミクロンオーダーになっても輝きを失いません。

2010年(第66回)日本顕微鏡学会
写真コンクール 最優秀作品賞受賞作品

撮影条件

  • 試料:単結晶シリコン
  • 測定装置:集束イオン/電子ビーム加工観察装置 nanoDUE'T® NB5000
  • 撮影倍率:7,000倍
  • 加速電圧:FIB 40kV、SEM 5kV

*: 作成者の所属情報は作成当時の情報です。

*: この作品は日本顕微鏡学会主催、「写真コンクール」に出展された作品です。

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